主题:【第十六届原创】光电子能谱在微米级二维材料表面分析中的应用

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huangqingw
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二维材料是当前材料学的研究热点,尺寸为数十微米的二维材料通常用XPS表面分析设备自带的光学显微镜无法直接观察到。本作品介绍了一种图案点阵法,利用XPS自带的最大12倍的光学显微镜,能很好的定位数十微米的二维材
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