主题:【已应助】请教ICP是否就不存在光谱干扰?

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有水有渝
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请教ICP是否就不存在光谱干扰,不考虑前处理的前提下,测定的结果都是准确的,ICP-MS的质谱干扰吗?
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tang566
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sdlzkw007
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你的问题怪怪的,理论上来说都会有各自的干扰,不管是ICP~OES(AES)还是ICP~MS。因为这是仪器设备设计制造固有的一些问题。比如对ICP~OES来说,光学分辨率再高,也会有分不开的两条谱线,所以干扰存在是必然结果。同理,对ICP~MS来说,只有单位质量分辨率,那么最直接的例子就是Ar+Cl和As的质量差不多,没有手段分辨出两者之间的差异。结果可想而知了。
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2018/10/31 18:03:28 Last edit by sdlzkw007
dadgoh
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JOE HUI
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与样品基体有很大关系,看待测元素,光谱干扰是客观存在的
有水有渝
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原文由 sdlzkw007(sdlzkw007) 发表:
你的问题怪怪的,理论上来说都会有各自的干扰,不管是ICP~OES(AES)还是ICP~MS。因为这是仪器设备设计制造固有的一些问题。比如对ICP~OES来说,光学分辨率再高,也会有分不开的两条谱线,所以干扰存在是必然结果。同理,对ICP~MS来说,只有单位质量分辨率,那么最直接的例子就是Ar+Cl和As的质量差不多,没有手段分辨出两者之间的差异。结果可想而知了。
有一位同行,认为测定铬元素(波长为359.3nm)时使用火焰法不扣背景时的结果与ICP的结果接近,并认为359.3nm位于可见光区,光谱干扰很小且ICP没有光谱干扰,所以火焰法测铬应以不扣背景时的结果为准确。实际火焰法测铬扣与不扣背景差异很大,不扣背景时结果大概为15ppm,扣背景时结果会小于5ppm
deer
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原文由sdlzkw007(sdlzkw007)发表:你的问题怪怪的,理论上来说都会有各自的干扰,不管是ICP~OES(AES)还是ICP~MS。因为这是仪器设备设计制造固有的一些问题。比如对ICP~OES来说,光学分辨率再高,也会有分不开的两条谱线,所以干扰存在是必然结果。同理,对ICP~MS来说,只有单位质量分辨率,那么最直接的例子就是Ar+Cl和As的质量差不多,没有手段分辨出两者之间的差异。结果可想而知了。
怪问题
Insm_020509b6
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会有干扰的,不过一个元素会有好几条特征谱线,你可以多调几条试试,看看不同谱线测试的结果会不会差异很大
sdlzkw007
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原文由 有水有渝(xky0230699) 发表:
有一位同行,认为测定铬元素(波长为359.3nm)时使用火焰法不扣背景时的结果与ICP的结果接近,并认为359.3nm位于可见光区,光谱干扰很小且ICP没有光谱干扰,所以火焰法测铬应以不扣背景时的结果为准确。实际火焰法测铬扣与不扣背景差异很大,不扣背景时结果大概为15ppm,扣背景时结果会小于5ppm
火焰法的光源是锐线光源,测试方式是吸收光度法,而ICP则是原子发射光谱法,原理差别很大,没有单纯结果比较的道理。
砂锅粥
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肯定是会干扰的。就算是一个纯物质也会干扰的。纯物质也可能存在自身谱线波长接近的,或者是受到氩气谱线的干扰。当然这两种干扰的可能性相比于非纯物质其它元素的干扰可能性小很多。
但ICP里面几乎每个可测元素都有多条谱线,这条不行可以选另外的谱线,并且如果方法不是常规成熟的方法的话,最好选多几条谱线进行测试。
不忘初心
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