原文由 sdlzkw007(sdlzkw007) 发表:有一位同行,认为测定铬元素(波长为359.3nm)时使用火焰法不扣背景时的结果与ICP的结果接近,并认为359.3nm位于可见光区,光谱干扰很小且ICP没有光谱干扰,所以火焰法测铬应以不扣背景时的结果为准确。实际火焰法测铬扣与不扣背景差异很大,不扣背景时结果大概为15ppm,扣背景时结果会小于5ppm
你的问题怪怪的,理论上来说都会有各自的干扰,不管是ICP~OES(AES)还是ICP~MS。因为这是仪器设备设计制造固有的一些问题。比如对ICP~OES来说,光学分辨率再高,也会有分不开的两条谱线,所以干扰存在是必然结果。同理,对ICP~MS来说,只有单位质量分辨率,那么最直接的例子就是Ar+Cl和As的质量差不多,没有手段分辨出两者之间的差异。结果可想而知了。