主题:【已应助】怎么测硅最准?

浏览0 回复18 电梯直达
dry2014
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我做分子筛,之前想用ICP测一下元素组成,用氢氟酸,硝酸消解。但是仪器管理员说这样测硅误差很大,他们自己消解过含硅的标样,ICP测硅误差能达到20%,最后建议我用XRF测。请问一下,有没有什么比较好的消解含硅样品的方法,能够减小误差?
推荐答案:砂锅粥回复于2020/07/11
含硅一般用氢氟酸或者碱熔,两者用ICP测都不是太好,氢氟酸需要耐氢氟酸系统,或者用大量硼酸络合氢氟酸;碱熔含有大量的碱,对进样系统的玻璃件会造成伤害,必须进行酸化,基体很大,结果也很可能会有影响。前面楼主提到的XRF如果要测准还是要做曲线,不过我觉得可能性不大。
楼主不妨试试用分光光度计。比如硅钼蓝分光光度法,楼主可以百度一下参考相关方法。
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JOE HUI
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ICP测硅最好是耐HF进样系统,注意控制空白,其次消解选择合适的方法,酸溶或者是碱溶?
猥琐大叔
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deer
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砂锅粥
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含硅一般用氢氟酸或者碱熔,两者用ICP测都不是太好,氢氟酸需要耐氢氟酸系统,或者用大量硼酸络合氢氟酸;碱熔含有大量的碱,对进样系统的玻璃件会造成伤害,必须进行酸化,基体很大,结果也很可能会有影响。前面楼主提到的XRF如果要测准还是要做曲线,不过我觉得可能性不大。
楼主不妨试试用分光光度计。比如硅钼蓝分光光度法,楼主可以百度一下参考相关方法。
dry2014
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原文由 deer(lujun710711) 发表:
硅大概有多少?前期试样要处理好
二氧化硅含量在45%左右
dry2014
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原文由 砂锅粥(czcht) 发表:
含硅一般用氢氟酸或者碱熔,两者用ICP测都不是太好,氢氟酸需要耐氢氟酸系统,或者用大量硼酸络合氢氟酸;碱熔含有大量的碱,对进样系统的玻璃件会造成伤害,必须进行酸化,基体很大,结果也很可能会有影响。前面楼主提到的XRF如果要测准还是要做曲线,不过我觉得可能性不大。
楼主不妨试试用分光光度计。比如硅钼蓝分光光度法,楼主可以百度一下参考相关方法。
好的,谢谢老师~
xx_dxd_xx
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高含量的硅只能用碱熔处理。氢氟酸处理很难保证不挥发损失。碱熔的试样需要硝酸酸化形成硅酸溶胶,如果操作不慎,形成沉淀也会损失。所以目前最经典的还是化学分析法。用XRF做,如果有合适的标样也是可以的,要求标样与待测样的化学组成接近,物理性质比如粒径也要尽可能一致。
dry2014
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原文由 xx_dxd_xx(xx_dxd_xx) 发表:
高含量的硅只能用碱熔处理。氢氟酸处理很难保证不挥发损失。碱熔的试样需要硝酸酸化形成硅酸溶胶,如果操作不慎,形成沉淀也会损失。所以目前最经典的还是化学分析法。用XRF做,如果有合适的标样也是可以的,要求标样与待测样的化学组成接近,物理性质比如粒径也要尽可能一致。
谢谢您的解答。但是为什么会要求物理性质相近?这不只是测个元素含量么?
xx_dxd_xx
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原文由 dry2014(v2991446) 发表:
谢谢您的解答。但是为什么会要求物理性质相近?这不只是测个元素含量么?
这方面我也不算内行,原理也说不清。但是实验结果却是如此,我这的一台XRF主要做陶瓷玻璃和其他硅酸盐,标样是陶瓷片,标定之后测各种陶瓷就很准,测其他的材料比如矿石、催化剂误差就比较大,把样品磨细压片之后就准一些,如果压片之后再烧结,测出来就很准了。总的来说就是标样与样品越接近就越准。
老兵
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