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主题：【活动】积分商城京东卡申领活动第二期（获奖结果已发布）

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2020/9/21 22:45:48 341楼管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

太好了，盖一层

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symmacros

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2020/9/22 6:06:48 342楼管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

定期更换真空泵的烟雾过滤器，以免失效。

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wccd

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2020/9/22 7:49:01 343楼管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

离峰校正法是一种经典的校正方法，主要用于简单光谱背景干扰情况和简单元素谱线干扰的校正，常用的有离峰单点，两点，多点等校正方法。当波长漂移比较大、背景分布不均匀时，测量得到的背景值有时与谱线位置的数值不一致，此时采用离峰校正法将会引起比较大的误差，因此如果存在上述情况，建议不应使用此法校正。

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2020/9/22 7:49:30 344楼管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

由于背景的存在，使分拆线信号测量值产生正的偏离，对于发射法而言，设Ix为分析线发射强度，Ib为背景发射强度，则谱线的表观强度(Ix b)为： Ix b＝Ix Ib

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2020/9/22 11:13:05 Last edit by wccd

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2020/9/22 7:50:15 345楼管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

Ix＝Ix b-Ib（注意我们用ICP分析时就用Ix做标准曲线的），一般用谱线与背景的强度比的对数表示：Log(Ix/Ib)=Log[(Ix b/Ib)-1]

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2020/9/22 11:13:44 Last edit by wccd

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2020/9/22 7:50:37 346楼管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

只要测出Ix b／Ib并减去1，然后取对数即可得到Log(Ix/Ib)。由于Ib是不随分析物浓度变化的常数，故Log(Ix/Ib)一般可以代替IogIx使用。无论光电法或摄谱法，背景强度Ib均在离峰位置(Ix b为峰值位置表观强度)进行测量。对于光电法，离峰位置可由置于光路中的往复振荡的石英折射板来控制(现代商业仪器多采用计算机控制)。

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2020/9/22 11:14:08 Last edit by wccd

wccd

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2020/9/22 7:50:59 347楼管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

而对于摄谱法，背景强度Ib系通过照相参量Pb来度量，离峰位置视背景轮廓而定，对于均匀背景，背景值可选谱线任一边的数值来提供，而对于不均匀的背景轮廓，则应预先了解背景分布情况，而后确定测量位置并以谱线两边背景平均值作为背景值加以扣除，式(2)中Ix b/Ib值可以方便的由乳剂校正曲线读出的Log（Ix b/Ib）得到。

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