主题:【原创】请问火花直读光谱能做金属硅的杂质分析么?

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tianheihei
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金属硅的硅含量在98-99%左右
希望测其中的Fe,Al,Ca,C,N,P,B,Ti,Mn等元素,含量在几个ppm-几千个ppm间,用火花只读光谱能测么?
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happy_cheng
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硅这种材料本身就不适合用光电直读光谱仪测试,更不用说里面的杂质了!你要测里面的杂质的话,我建议你用ICP进行测试。
tianheihei
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我没用过光电直读光谱,还是不太明白为什么不能测,能说的详细些么?
361185269
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建议你用ICP检测  以为直读对里面的成分不能很好的检测 杂渍多  有ICP检测的话就可以  用消解法把成分给消解  而且数据也很标准  公认的
yym1024
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gwx_00016
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原文由 tianheihei 发表:
金属硅的硅含量在98-99%左右
希望测其中的Fe,Al,Ca,C,N,P,B,Ti,Mn等元素,含量在几个ppm-几千个ppm间,用火花只读光谱能测么?

这位朋友:你好!
    据我所知,火花直读光谱仪只是分析单基体或多基体金属中的杂质元素的。不能用来分析你的试样。
    你们的金属硅试样,按你的要求可以采用ICP-OES分析,由于你要求分析的元素非金属较多,可以选购德国斯派克的设备。但是,这要看你们的试样量如何,设备价格高,分析成本高,要算经济帐的啊!
    你提到的几种金属元素用常规化学分析应该没有问题的,铁、铝、钙含量是比较高的......
gwx_00016
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papasea
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直读要检测第一步就是放电激发,也就是样品必须导电,不然外层电子不能激发....做硅建议用ICP
SOMS课题组
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这么低的含量,有困难,就是ICP,也无非是半定量分析!!一般光电直读适合高含量的测定,但基质是硅的话,不好做的!!而且样品消解后,氟酸根离子对测定有影响,赶酸也很麻烦,需要赶的很干净,建议消解后用分光光度法来测,光度法对氟酸根没影响!!
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Last edit by soms-jameskin
yangyang84
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我司有在用SPECTRO的直读光谱仪,现正在想办法测试金属硅的Fe,Ca及铝成分。
希望各位大侠建议最经济及精度高的方法。
谢谢帮忙。
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