原文由 westyouday 发表:
1、例如:使用日立的f4500荧光分光光度计,测试固体样品,设定激发波长在254nm,在发射光谱中在510nm左右出现了一个不属于样品的尖锐的峰,不知道如何去除这个峰,因为样品的发射峰也在这个谱段,这个尖锐的峰在样品的两个发射峰之间。
2、例如:使用日立的f4500荧光分光光度计,测试固体样品,设定发射波长在545nm,在激发光谱中在270nm左右出现了一个不属于样品的尖锐的激发峰,由于样品的激发峰是在220nm-300nm之间的一个包,这个尖锐的峰正好叠加在样品的激发峰上,如何去除这个峰,应该怎么处理这个峰,处理这个谱图才比较合理?
谢谢各位!!
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1、例如:使用日立的f4500荧光分光光度计,测试固体样品,设定激发波长在254nm,在发射光谱中在510nm左右出现了一个不属于样品的尖锐的峰,不知道如何去除这个峰,因为样品的发射峰也在这个谱段,这个尖锐的峰在样品的两个发射峰之间。
2、例如:使用日立的f4500荧光分光光度计,测试固体样品,设定发射波长在545nm,在激发光谱中在270nm左右出现了一个不属于样品的尖锐的激发峰,由于样品的激发峰是在220nm-300nm之间的一个包,这个尖锐的峰正好叠加在样品的激发峰上,如何去除这个峰,应该怎么处理这个峰,处理这个谱图才比较合理?
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1、例如:使用日立的f4500荧光分光光度计,测试固体样品,设定激发波长在254nm,在发射光谱中在510nm左右出现了一个不属于样品的尖锐的峰,不知道如何去除这个峰,因为样品的发射峰也在这个谱段,这个尖锐的峰在样品的两个发射峰之间。
2、例如:使用日立的f4500荧光分光光度计,测试固体样品,设定发射波长在545nm,在激发光谱中在270nm左右出现了一个不属于样品的尖锐的激发峰,由于样品的激发峰是在220nm-300nm之间的一个包,这个尖锐的峰正好叠加在样品的激发峰上,如何去除这个峰,应该怎么处理这个峰,处理这个谱图才比较合理?
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1、例如:使用日立的f4500荧光分光光度计,测试固体样品,设定激发波长在254nm,在发射光谱中在510nm左右出现了一个不属于样品的尖锐的峰,不知道如何去除这个峰,因为样品的发射峰也在这个谱段,这个尖锐的峰在样品的两个发射峰之间。
2、例如:使用日立的f4500荧光分光光度计,测试固体样品,设定发射波长在545nm,在激发光谱中在270nm左右出现了一个不属于样品的尖锐的激发峰,由于样品的激发峰是在220nm-300nm之间的一个包,这个尖锐的峰正好叠加在样品的激发峰上,如何去除这个峰,应该怎么处理这个峰,处理这个谱图才比较合理?
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是倍频峰,很强的,太强了对仪器的检测器会有损伤的。加高通滤光片啊,300nm的,什么问题都能解决。