其实主要是高能的背散射电子对探测器的伤害比较大,特别是低倍大束斑的情况下伤害更大,布鲁克如何保护探测器不受背散射电子的伤害这个的确是布鲁克独家技术,可以透露的是两点
1.布鲁克探测器前端的独特设计
2.探测器前端某些装置采用了特殊材料
1000,000cps是布鲁克SDD探测器的最大处理能力,的确TEM上几乎不可能达到如此高的计数,这也是布鲁克SDD探测器无需shutter保护的另外一个原因。
有可能安装就是在您的母校,有空可以回去看看。
至于稳定性:我想可以包括两部分吧
第一:损坏率
SEM上的SDD损坏率是极低的,几乎无需后期维护。
第二:谱峰及其定量的稳定性
SEM上的SDD稳定性已经等同于甚至超过Si(Li),TEM上现在还没有足够的用户验证,但是从国内的一台的运行状况来说稳定性还是非常出色的。
希望我的回复对您的选择有用,欢迎多多交流。
原文由 selly_oak 发表:
请问一下工兵先生:
面对高能的散射电子你们是如何保护探头的?如果专利正在申请,可以拒绝回答。目前我正在为老板做调研更新EDS系统,对新技术很感兴趣。很巧搜索到这个网站,看来会有所收获了。还是祖国的仪器先进哪!听我学生说他的母校实验性的安装了一台TEM SDD,是不是这一台?我在TEM上做能谱已有十几年了,从没见过1,000,000cps的信号。我最关心的是系统的稳定性,工兵先生有没有这方面的信息?
原文由 tao______ 发表:
回ZEMB兄:
TEM上对能谱的要求更高,
1.TEM加速电压动辄200KV以上,产生的背散射电子的能量非常之大,容易对能谱造成伤害,损坏能谱探测器!目前只有布鲁克掌握了TEM上SDD能谱的技术,所以我说这是一个历史性的突破!
2.TEM200KV的加速电压产生的信号是非常强,Si(Li)能谱需要一个叫做SHUTTER(快门)的保护装置来保护探测器过载,快门是机械装置,通过气阀来控制它的开关,容易损坏,其破损率用过的都知道!
SDD能谱可以处理高达1000000cps的输入信号,因此无需快门保护,彻底抛弃了气动快门这个最容易损坏的装置。
原文由 zemb 发表:
请介绍一下,安装在TEM上和安装在SEM上的能谱有何差别。