主题：【分享】以下标准我都有,如需要的可与我联系!与大家共享!

最高兴看这种帖

求以下标准，急用！！！
GB/T 1550-1997　非本征半导体材料导电类型测试方法
　　GB/T 1551-1995　硅、锗单晶电阻率测定　直流两探针法
　　GB/T 1552-1995　硅、锗单晶电阻率测定　直排四探针法
　　GB/T 1553-1997　硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法
　　GB/T 1554-1995　硅晶体完整性化学择优腐蚀检验方法
　　GB/T 1555-1997　半导体单晶晶向测定方法
　　GB/T 1557-1989　硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法
　　GB/T 1558-1997　硅中代位碳原子含量红外吸收测量方法
　　GB/T 4058-1995　硅抛光片氧化诱生缺陷的检验方法
　　GB/T 4059-1983　硅多晶气氛区熔磷检验方法
　　GB/T 4060-1983　硅多晶真空区熔基硼检验方法
　　GB/T 4061-1983　硅多晶断面夹层化学腐蚀检验方法
　　GB/T 4298-1984　半导体硅材料中杂质元素的活化分析方法
　　GB/T 4326-1984 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法
　　GB/T 5252-1985　锗单晶位错腐蚀坑密度测量方法
　　GB/T 6616-1995　半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测定非接触涡流法
　　GB/T 6617-1995　硅片电阻率测定扩展电阻探针法
　　GB/T 6618-1995　硅片厚度和总厚度变化测试方法
　　GB/T 6619-1995　硅片弯曲度测试方法
　　GB/T 6620-1995　硅片翘曲度非接触式测试方法
　　GB/T 6621-1995　硅抛光片表面平整度测试方法
　　GB/T 6624-1995　硅抛光片表面质量目测检验方法
　　GB/T 8757-1988　砷化镓中载流子浓度等离子共振测量方法
　　GB/T 8758-1988　砷化镓外延层厚度红外干涉测量方法
　　GB/T 8760-1988　砷化镓单晶位错密度的测量方法
　　GB/T 11068-1989 砷化镓外延层载流子浓度电容一电压测量方法
　　GB/T 11073-1989　硅片径向电阻率变化的测量方法
　　GB/T 13387-1992 电子材料晶片参考面长度测量方法
　　GB/T 13388-1992　硅片参考面结晶学取向x射线测量方法
　　GB/T 14140.1-1993　硅片直径测量方法 光学投影法
　　GB/T 14140.2-1993　硅片直径测量方法 千分尺法
　　GB/T 1414l-1993　硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的测定直排四探针法
　　GB/T 14142-1993　硅外延层晶体完整性检验方法腐蚀法
　　GB/T 14143-1993　300-900&m硅片间隙氧含量红外吸收测量方法
　　GB/T 14144-1993　硅晶体中间隙氧含量径向变化测量方法
　　GB/T 14145-1993　硅外延层堆垛层错密度测定干涉相衬显微镜法
　　GB/T 14146-1993　硅外延层载流子浓度测定汞探针电容一电压法
　　GB/T 14847-1993 重掺杂衬底上轻掺杂硅外延层厚度的红外反射测量方法
　　GB/T 14849.1-1993 工业硅化学分析方法　1，10一二氮杂菲分光光度法测定铁量
　　GB/T 14849.2-1993　工业硅化学分析方法　铬天青-S分光光度法测定铝量
　　GB/T 14849.3-1993　工业硅化学分析方法　钙量的测定
　　GB/T 15615-1995　硅片抗弯强度测试方法

GB1550 硅单晶导电类型测定方法

  GB 1551 硅单晶电阻率直流二探针测量方法

  GB 1552 硅单晶电阻率直流四探针测量方法

　　GB 1553 硅单晶寿命直流光电导衰退测量方法

　　GB 1554 硅单晶（111）晶面位错蚀坑腐蚀显示测量方法

　　GB 1555 硅单晶晶向光图测量方法

　　GB 1556 硅单晶晶向X光衍射测量方法

好帖～～～～～～～～～～～～～～～～～～～～～

谢谢分享！

是否可以传一份JIS G4305的标准，谢谢！

非常感谢楼主

大家说得那么热闹，但是从哪里下啊

楼主你好，能给我发JIS G3136-2005建筑结构用轧制钢这个标准吗？急用，谢谢了，我的邮箱是js0772@163.com

我们需要东西,您有且慷慨地发上来了,缘份啊!谢谢啊!