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红外光谱（IR）

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主题：【求助】红外光谱在分析材料表面价态和官能团时，与XPS孰犹孰劣？

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内阁大学士

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发表于：2007/12/10 15:26:38 楼主管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

哪位大牛好好总结一些，谢谢！
各人认为XPS好像更加灵敏一些
红外光谱有些价态或者官能团检测不出来
另外顺便问问，红外光谱最擅长干什么？
谢谢啦

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2007/12/18 8:30:10 沙发管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

XPS提供的仅是表面上的元素分析，具有很高的表面灵敏度，可以达到10-3原子单层，X射线粉末衍射（XRD）或者红外光谱（IR）分析给出的是体相成分的分析结果，分析灵敏度低，可能该元素含量达到5%wt才可以检测到。

如果想知道元素的价态，XPS应该是最强有力的手段，而且一些粉末，固体，薄膜的元素化学状态的分析（特别是金属元素，除C、O以外的非金属元素）也只能用XPS来表征，这也是XPS的主要用途。但是如果是有机物，想知道C、O、H官能团的分析，红外还是比较简洁方便的。

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2007/12/18 8:51:18 板凳管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

原文由 icecutie 发表:
XPS提供的仅是表面上的元素分析，具有很高的表面灵敏度，可以达到10-3原子单层，X射线粉末衍射（XRD）或者红外光谱（IR）分析给出的是体相成分的分析结果，分析灵敏度低，可能该元素含量达到5%wt才可以检测到。

如果想知道元素的价态，XPS应该是最强有力的手段，而且一些粉末，固体，薄膜的元素化学状态的分析（特别是金属元素，除C、O以外的非金属元素）也只能用XPS来表征，这也是XPS的主要用途。但是如果是有机物，想知道C、O、H官能团的分析，红外还是比较简洁方便的。

谢谢楼上的解答！
那么红外分析C、H、O官能团时，可以得出主要官能团的含量或者浓度吗？

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