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主题：傅立叶变换红外光谱仪测量硅片上生长的氧化硅薄膜的时候会出现干涉条文,严重影响测试结果,有的峰被干涉条文掩盖,请问如何消除干涉条文??

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schumahe
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发表于：2004/12/29 15:19:27 楼主 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
傅立叶变换红外光谱仪测量硅片上生长的氧化硅薄膜的时候会出现干涉条文,严重影响测试结果,有的峰被干涉条文掩盖,请问如何消除干涉条文??
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2004/12/31 11:50:38 沙发 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
2004年的第四期《化学进展》杂志，有一篇文章“近红外分析中光谱预处理及波长选择方法进展与应用”，您可以读一读。
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hzhgx1979
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2005/7/13 13:48:14 板凳 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
请您利用网上的信息资源进行文献检索，可以利用：<br>
http://www.analysis.org.cn/ 中国分析网<br>
http://www.google.com 信息检索网<br>
http://www.wanfangdata.com.cn/万方数据库<br>
http://www.nstl.gov.cn/nstl/user/ywjsdg.jsp 国家科技文献图书中心<br>
http://www.scirus.com/?PTS Scirus 科学信息检索网<br>
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