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X射线荧光光谱仪（XRF）

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仪器社区 > X射线仪器 > X射线荧光光谱仪（XRF）帖子详情

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主题：【求助】帕纳科AXIOS新用户问题求助：烧结矿分析（也希望其他厂家的前辈用户指点）

浏览0 回复27 电梯直达

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jim

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2008/1/31 15:31:09 11楼管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

原文由 wujiepop 发表:
漂移校正一遍不行的话建议你重做一条曲线

我是新手，请教什么是“漂移校正”谢谢

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jim

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2008/1/31 15:34:51 12楼管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

原文由 ayaku 发表:
压片法必须要求绘制曲线与分析状态一致，所以最好不要用标样。荧光分析是比较分析，用生产样定值后做线（分析范围要宽），然后分析未知样看看效果如何（保证制样条件一致）？SiO2压片时，粒度达到400目，强度才会稳定。

400目，有必要吗？还有如果是轻元素对粒度要求高的话，Al比Si还要“轻”。为什么我们的Al2O3一直很稳定呢?

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高原

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2008/1/31 16:28:37 13楼管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

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1.采取一个系列的实际生产中的样品经化学分析准确定值后作标样制作工作曲线,分析样品的制备要尽量和标样制备条件相同(样品量,磨样时间等).该方法准确度较高但工作量大.
2.采用现在的工作曲线,统计目前荧光分析值与化学分析值的误差趋向,调整工作曲线系数以达到和化学分析值一致.该方法简单工作量小,准确度也还是不错的.

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jim

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2008/2/2 10:39:31 14楼管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

原文由 lizhangsheng 发表:
建议:
1.采取一个系列的实际生产中的样品经化学分析准确定值后作标样制作工作曲线,分析样品的制备要尽量和标样制备条件相同(样品量,磨样时间等).该方法准确度较高但工作量大.
2.采用现在的工作曲线,统计目前荧光分析值与化学分析值的误差趋向,调整工作曲线系数以达到和化学分析值一致.该方法简单工作量小,准确度也还是不错的.

谢谢各位前辈指点，按方法2已解决，生产样没问题了。
不过如果做其它单位的烧结矿或标样肯定就不准了，呵呵！

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塞外飞雪

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2008/2/2 11:05:05 15楼管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

一般来说。压片法的要求就是标样要与待测样，尽可能的在化学成分，物理结构，各个方面保持一致，这样才能尽可能的减少结构效应和和粒度效应带来的偏差。这类工作曲线应用范围小，不像融玻璃片那样应用范围非常广。

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相逢何必相识

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2008/2/16 12:09:57 16楼管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

原文由 050041 发表:
原文由 32022 发表:
你可以拿几个化学法定值的生产样用你原来的曲线测量,根据所测结果调整你原来的曲线,使其满足对生产样品的测量需求.

您是指用化学定好值的样品来用仪器测，之后如果整体偏低或偏高再通过手动调整标准曲线的截距来使荧光值与化学值相符。

是这样吗？

你是新手,建议你不要乱改曲线的截距,通常情况下不需要这么做.
在调整曲线的时候根据样品的性质,基体情况,适当通过元素间干扰来调节

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相逢何必相识

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2008/2/16 12:14:25 17楼管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

原文由 050041 发表:
原文由 lizhangsheng 发表:
建议:
1.采取一个系列的实际生产中的样品经化学分析准确定值后作标样制作工作曲线,分析样品的制备要尽量和标样制备条件相同(样品量,磨样时间等).该方法准确度较高但工作量大.
2.采用现在的工作曲线,统计目前荧光分析值与化学分析值的误差趋向,调整工作曲线系数以达到和化学分析值一致.该方法简单工作量小,准确度也还是不错的.

谢谢各位前辈指点，按方法2已解决，生产样没问题了。
不过如果做其它单位的烧结矿或标样肯定就不准了，呵呵！

毒害少年,对于一个刚入门的新手你怎么可以教人家改曲线的系数