主题:【求助】能简单说说X荧光测膜厚的原理吗?

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cqianc819
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我们公司用的是X-RF仪主要是用来分析有害物质成分的,据说可以测膜厚,但没人会用,听说还要一套膜厚标准件才行,不知是什么东东,想请高人指点指点如何测的方法。谢谢!
ylcd
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原文由 agring 发表:
我们这里用的是日本horriba(掘厂)的。厂家自带了几个标准镀层厚度的片子。

可以建曲线。

不过感觉测定这个不太靠谱,只能算附带的一个功能。
精确测定金属镀层厚度的结果还是令人怀疑。

曾经测定过一组镀金的厚度,然后与金相显微镜的结果作比较
有的准,有的不准,不晓得为啥。



用金相能测镀金的厚度?金相就100%准确?现在测量镀金厚度几乎都是使用专业的XRF镀层测厚仪,很多XRF都可以元素分析,也可以测厚,但不准确,建议要测量ROHS + 卤素的用专业的XRF一起,要测镀层厚度的用专业的XRF膜厚仪
azuoin
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学习了

原文由 george(george) 发表:

XRF测量金属薄膜厚度的原理是利用X射线的能量激发样品中的金属元素使它产生特征X射线荧光,通过检测器检测到荧光的强度来计算金属镀层的厚度。具有非破坏,快速简便的优点。检测的范围大约从0.01到100微米,根据元素不同会有所差异。
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