原文由 newkingtor 发表:
我觉得这和锂漂移硅关系不大,因为锂漂移硅和冷指相连,一直处于低温,工作应该稳定(个人观点,未求证)。和电子线路的稳定性有莫大的关系,而电子线路中最不可靠的就是放大器,放大器都有温漂,即随温度有微小变化。能谱中的两个放大器--前置放大器和主放大器,由于前置放大器和探测器一样处于低温室中,所以其温漂可忽略;而主放大器处于室温环境,在工作一段时间后,其温度或可上升,从而引起温漂效应,在能谱上就反应为峰的漂移。
原文由 newkingtor 发表:
我觉得这和锂漂移硅关系不大,因为锂漂移硅和冷指相连,一直处于低温,工作应该稳定(个人观点,未求证)。和电子线路的稳定性有莫大的关系,而电子线路中最不可靠的就是放大器,放大器都有温漂,即随温度有微小变化。能谱中的两个放大器--前置放大器和主放大器,由于前置放大器和探测器一样处于低温室中,所以其温漂可忽略;而主放大器处于室温环境,在工作一段时间后,其温度或可上升,从而引起温漂效应,在能谱上就反应为峰的漂移。
原文由 renxin 发表:原文由 SeanWen 发表:
前置放大器是否应该紧跟着Si(Li)晶体后面。
应该不对, 能谱探头只有一个 放大器, 就是 前置 放大器 (PRE-AMP), 其实就是提到的主放大器。
SI(LI)晶体后面的 放大单元 叫 场效应晶体管 (FIELD EFFECT TRANSITOR), 除了放大功能之外, 更重要的是 做 复位和 晶体加温, 但不是一个放大器。
牛津的 FET是专利, 叫 PENTAFET, 就是五脚晶体管的意思。