主题:【求助】请教:用波长色散XRF测量膜厚的原理是什么?

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xiaomutou
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波长色散XRF可以测量薄膜的厚度,其中的原理是什么呢?
再有我测试的为ZnO薄膜,选择薄膜元素为Zn、O测试时,测出的膜厚为150微米,而薄膜的实际厚度仅为几百纳米。去掉氧计算时,厚度反而正常了。

以上问题不解,望大家指教。谢谢!
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ziru09
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这个问题顶上来让大家分析一下。我也想知道为什么。
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波长色散XRF可以测量薄膜的厚度,其中的原理是什么呢?
再有我测试的为ZnO薄膜,选择薄膜元素为Zn、O测试时,测出的膜厚为150微米,而薄膜的实际厚度仅为几百纳米。去掉氧计算时,厚度反而正常了。

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薄膜厚度是通过什么方法计算出来的。
bennaiyou
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波长色散XRF可以测量薄膜的厚度,其中的原理是什么呢?
再有我测试的为ZnO薄膜,选择薄膜元素为Zn、O测试时,测出的膜厚为150微米,而薄膜的实际厚度仅为几百纳米。去掉氧计算时,厚度反而正常了。

以上问题不解,望大家指教。谢谢!


原理自己去看资料吧,不太好说明白。
你测ZnO薄膜,肯定只能选Zn元素。O元素使用XRF测量不准确,肯定就算不准确。
测量薄膜有两种方法:1、发射方法;2、吸收方法。从LZ说明,应该使用的是发射方法,测量镀层里的元素。如果测量衬底材料的元素,是吸收方法。
前提:镀层不是无穷厚样品,X射线要能穿透镀层。
该帖子作者被版主 albert8009223积分, 2经验,加分理由:应助
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波长色散XRF可以测量薄膜的厚度,其中的原理是什么呢?
再有我测试的为ZnO薄膜,选择薄膜元素为Zn、O测试时,测出的膜厚为150微米,而薄膜的实际厚度仅为几百纳米。去掉氧计算时,厚度反而正常了。

以上问题不解,望大家指教。谢谢!


原理自己去看资料吧,不太好说明白。
你测ZnO薄膜,肯定只能选Zn元素。O元素使用XRF测量不准确,肯定就算不准确。
测量薄膜有两种方法:1、发射方法;2、吸收方法。从LZ说明,应该使用的是发射方法,测量镀层里的元素。如果测量衬底材料的元素,是吸收方法。
前提:镀层不是无穷厚样品,X射线要能穿透镀层。

其实测Zn,可以换算成ZnO
bennaiyou
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azuoin
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ZnO厚度通常不是用椭偏仪测量么?XRF膜厚测量我也不懂,学习
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