原文由 xiaomutou(xiaomutou) 发表:
波长色散XRF可以测量薄膜的厚度,其中的原理是什么呢?
再有我测试的为ZnO薄膜,选择薄膜元素为Zn、O测试时,测出的膜厚为150微米,而薄膜的实际厚度仅为几百纳米。去掉氧计算时,厚度反而正常了。
以上问题不解,望大家指教。谢谢!
原文由 XRF_INFO(xrf-info) 发表:原文由 xiaomutou(xiaomutou) 发表:
波长色散XRF可以测量薄膜的厚度,其中的原理是什么呢?
再有我测试的为ZnO薄膜,选择薄膜元素为Zn、O测试时,测出的膜厚为150微米,而薄膜的实际厚度仅为几百纳米。去掉氧计算时,厚度反而正常了。
以上问题不解,望大家指教。谢谢!
原理自己去看资料吧,不太好说明白。
你测ZnO薄膜,肯定只能选Zn元素。O元素使用XRF测量不准确,肯定就算不准确。
测量薄膜有两种方法:1、发射方法;2、吸收方法。从LZ说明,应该使用的是发射方法,测量镀层里的元素。如果测量衬底材料的元素,是吸收方法。
前提:镀层不是无穷厚样品,X射线要能穿透镀层。