原文由 iamikaruk 发表:
这个东西挺好玩的,讲一下以前看文献看到的东西。通过在后面接收micro-diffraction可以研究应力分布,不过受聚焦限制,现在分辨率只有几个nm。其实在电镜上也可以做到类似的diffraction模式,而且空间分辨率应该更好,只要将nanoprobe diffraction跟STEM扫描结合在一起就行了。FEI已经在自己的电镜上搞了这种工作模式,JEOL的电镜目前还没有,不过他们工程师已经发文章说如何手调了。另外,不知道上海光源跟美国阿贡或者德国的BESSY相比如何。
原文由 shxie 发表:原文由 iamikaruk 发表:
这个东西挺好玩的,讲一下以前看文献看到的东西。通过在后面接收micro-diffraction可以研究应力分布,不过受聚焦限制,现在分辨率只有几个nm。其实在电镜上也可以做到类似的diffraction模式,而且空间分辨率应该更好,只要将nanoprobe diffraction跟STEM扫描结合在一起就行了。FEI已经在自己的电镜上搞了这种工作模式,JEOL的电镜目前还没有,不过他们工程师已经发文章说如何手调了。另外,不知道上海光源跟美国阿贡或者德国的BESSY相比如何。
对了,你那有没有FEI这种仪器的资料?或者给我一个网页?我收集资料用。
原文由 templus 发表:
Nature Vol 456, 13 P222-224 有一篇用STXM的文章,上面的示意图非常清楚,可以看一下。Zone plate用来 聚焦,Order-sorting aperture滤去高阶衍射,样品台移动。
前年好像奥地利有个组用 Zone plate成功的对中性的He原子聚焦,做了一个He显微镜,挺有意思的。
FEI那个好像只是一个软件。就是直接通过测量nano beam diffraction斑点的位置,来测量strain. 结合了扫描功能,所以能自动测量。手动也能测,不过nano beam diffraction 切换到image mode 找样品不太容易,束斑太小了。
原文由 templus 发表:
Nature Vol 456, 13 P222-224 有一篇用STXM的文章,上面的示意图非常清楚,可以看一下。Zone plate用来 聚焦,Order-sorting aperture滤去高阶衍射,样品台移动。
前年好像奥地利有个组用 Zone plate成功的对中性的He原子聚焦,做了一个He显微镜,挺有意思的。
FEI那个好像只是一个软件。就是直接通过测量nano beam diffraction斑点的位置,来测量strain. 结合了扫描功能,所以能自动测量。手动也能测,不过nano beam diffraction 切换到image mode 找样品不太容易,束斑太小了。
原文由 shxie 发表:
我对于物理专业词汇很陌生,这个Fresnel zone plate是怎么个原理呢?
原文由 handsomeland 发表:原文由 shxie 发表:
我对于物理专业词汇很陌生,这个Fresnel zone plate是怎么个原理呢?
STXM之前还没见过。
不过了解光学中Fresnel lens:它是一面为光面,另一面刻录了由小到大的同心圆的薄凸透镜,它的纹理是利用光的干涉及反射、根据相对灵敏度和接收角度要求来设计的,使得它的聚焦光束更细,或透射平行光束传播距离更远。它和普通凸透镜的区别如图所示。猜测电子光学中的Fresnel zone plate跟这个原理类似。
refering: http://en.wikipedia.org/wiki/Fresnel_lens