原文由 ieeye 发表:
太感谢您了!!
也许您的这些回答是初入门的朋友最佳的答复。。。。
真正做到了指点迷津,
另外: 您第4条中所提的 基体校正是什么概念??经常见这个词语就是看不懂。
另外:还有如下图中
所谓的强度是说什么意思?什么的强度‘?
A0\A1是什么意思??
干扰通道数量是个什么概念?
强度低限和高限是基本曲线也就是未经过校正的曲线段的最低点和最高点。
AO,A1,A2,A3是曲线的参数,常见的一次曲线也就是直线,只有AO和A1,分别是斜率和截距。
干扰通道是当使用了任何校正模式之后,所选择的参加校正的元素通道的数量。当然,没有做任何校正,这个数值应该是0。
所谓基体就是样品的组成成分。基体效应就是基体对分析元素测定的影响,不同元素之间都存在互相影响,一般称为吸收增强效应,另外还包括样品的物理状态和元素的化学价态的不一样而产生影响。对基体效应进行数学公式的修正就叫基体校正。
关于基体校正一般X荧光的书上都会有介绍,也有很多校正公式,有兴趣的话可以去看看。至于选择哪种校正模式合适,应以最终分析结果为准。