主题：【线上讲座18期】透射电子显微学在材料科学研究中的应用（活动时间：2009年9月9-24日） 已经结束

原文由 maoxianwang 发表:
drizzlemiao您好！我有以下问题想请教,
请问：

1 图片效果很差，不知能否标定并确定纳米棒取向
2 初次接触SAED，参考了很多资料，但还是在云里雾里的，请高手指点
3 做了几个样，SAED效果都不好，不知如何能得到纳米棒较好的SAED图


4 用特征基本平行四边形标定时，图片用的是dm3源文件，空间为倒空间,标尺单位为1/nm,用DIGITAL MICROGRAPH软件得到L值取倒数即为晶面间距D？可得到的晶面间距比PDF卡片中该物质的D值大很多，不知何故。

原文由 yangruirui 发表:
drizzlemiao您好！我有以下问题想请教，
请问：
图片是Al合金中析出相的高分辨照片的FFT图求助，可视有个地方搞不懂，想请教您


这是Al合金中[100]方向上的一个析出相的高分辨照片，在这个高分辨照片的FFT的衍射图上（图4），我用红色圆圈圈起来的2个分开的斑点是如何造成的？从高分辨照片上看，好像在这个析出相的晶格在一些地方发生了错排（箭头所指），在这里会不会是层错，而这中分开的斑点会是这些层错引起的吗？希望各位高人指点一下



上次在论坛上提到过这个问题 想听听您的看法

原文由 maoxianwang 发表:
drizzlemiao您好！我有以下问题想请教,
请问：

1 图片效果很差，不知能否标定并确定纳米棒取向
2 初次接触SAED，参考了很多资料，但还是在云里雾里的，请高手指点
3 做了几个样，SAED效果都不好，不知如何能得到纳米棒较好的SAED图


4 用特征基本平行四边形标定时，图片用的是dm3源文件，空间为倒空间,标尺单位为1/nm,用DIGITAL MICROGRAPH软件得到L值取倒数即为晶面间距D？可得到的晶面间距比PDF卡片中该物质的D值大很多，不知何故。

原文由 bsgjq 发表:
drizzlemiao您好！我有以下问题想请教，
请问:1、在分析磁性样品时（比如Fe，Ni），有什么注意事项？在购置新TEM时应采取什么针对性的措施？我曾听说过，日本电子公司的样品杆做了特别处理，似乎是为了紧固样品，但具体不清楚。又，听说可以在测角台外加装盒子，避免外界空气扰动。还听说，关闭物镜以避免电磁干扰。愿闻其详。
2、在分析碳膜萃取复型的样品时，采用STEM模式，常会在视野中心出现小黑点，可能是电子束烧损所致。不知道您有何高见将其避免，比如减小束斑、增厚碳膜等等是否可行？我刚开始做，摸不清头脑。
3、对小于20nm的粒子，很难做到选区电子衍射，有人建议微衍射或NBD，请问这与HREM图像的FFT的区别？感觉如果NBD能有漂亮的点阵，在TEM模式下应该就有明确的晶格像了，然后再进行FFT，也可获取结构信息了。
这次讲座很好，给了我一个学习机会，非常感谢。上述某些问题版上可能已经讨论过，但我想借此良机深入学习一下。
谢谢！

原文由 drizzlemiao 发表:
2。如果是电子束造成的损伤，怎么会只出现在中心位置？如果一直扫动，STEM里可能会出现污染，但不应该有局部的烧伤。减小束斑应该有所作用，增加厚度则未必。

原文由 lysldl 发表:
透射电子显微镜的使用维护注意事项？

原文由 bsgjq 发表:
首先感谢您的指导。
可能我没有把问题描述清楚，基本现象是：STEM观察喷碳制备的抽取复型试样时未见异常，当点成分分析后，分析点出现小黑点，视场中心点也出现小黑点。这种现象并不总是出现，有时制备的抽取复型碳膜试样并不出现小黑点，采用购买来的带碳膜的栅格网也没有出现中心小黑点。今后我再试着找找规律吧。

原文由 abooo 发表:
我有一个问题:
我第一次做TEM时，是用粉末滴在铜网上，但是放在电镜下看时发现铜网上的膜居然大部分都破了，很难找到样品，但是是用一次性滴管滴的，难道铜网很容易破么？