主题:【求助】关于XRF与化学分析结果的对比

浏览0 回复23 电梯直达
ljzllj
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先把样品灼烧,然后再分别进行两种方法分析,测得的结果再换算成灼烧前的。
如果样品与标样之间存在较大浓度的元素差异,建议做基体校正,或者采用匹配的基体做曲线。像前面说的Ba的浓度相差10%,可以自行配制一系列含高浓度Ba的标样熔片再做曲线进行比较。
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金水楼台先得月
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原文由 pengshaolin(pengshaolin) 发表:
使用化学容量法和XRF熔片法做出的结果铁的含量是有一定误差。

你认为哪个方法做的更准点呢。
xp1980
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你最好是检查下样品是不是作假了,里面含金属铁,会导致两种方法结果不一直的。比如氧化铁、钢渣等喊金属铁的样品,两种方法分析是有差异的。
该帖子作者被版主 albert8009221积分, 2经验,加分理由:节日参与奖励
edxrf
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白水山石
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原文由 金水楼台先得月(albert800922) 发表:
问一下楼主,两种方法,标样做怎么样?哪个方法做的更好?


做这个实验后,可能更好找原因,前面几位说的铁的存在状态不同也应是一个因素吧.
金水楼台先得月
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zhangjianc
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我认为可能有下面的几个原因:
1、在X荧光光谱分析全铁时,存在严重的矿物效应,如果没有进行基体校正,对于不同的基体,就会出现误差。
2、样品可能存在对化学法干扰的元素,可用荧光进行半定量分析,进行排除。
3、还有可能就是基体校正系数如果采用经验系数法,该方式完全是数学计算得来的,如果基体差异过大,也会出现误差,例如:铁矿石中磷的含量很低,而你在系数计算时+入了磷;在测量高或低磷样品中的全铁时,就会出现较大的误差。
zhangjianc
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我认为可能有下面的几个原因:
1、在X荧光光谱分析全铁时,存在严重的矿物效应,如果没有进行基体校正,对于不同的基体,就会出现误差。
2、样品可能存在对化学法干扰的元素,可用荧光进行半定量分析,进行排除。
3、还有可能就是基体校正系数如果采用经验系数法,该方式完全是数学计算得来的,如果基体差异过大,也会出现误差,例如:铁矿石中磷的含量很低,而你在系数计算时+入了磷;在测量高或低磷样品中的全铁时,就会出现较大的误差。
zhangjianc
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我认为可能有下面的几个原因:
1、在X荧光光谱分析全铁时,存在严重的矿物效应,如果没有进行基体校正,对于不同的基体,就会出现误差。
2、样品可能存在对化学法干扰的元素,可用荧光进行半定量分析,进行排除。
3、还有可能就是基体校正系数如果采用经验系数法,该方式完全是数学计算得来的,如果基体差异过大,也会出现误差,例如:铁矿石中磷的含量很低,而你在系数计算时+入了磷;在测量高或低磷样品中的全铁时,就会出现较大的误差。
zhangjianc
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我认为可能有下面的几个原因:
1、在X荧光光谱分析全铁时,存在严重的矿物效应,如果没有进行基体校正,对于不同的基体,就会出现误差。
2、样品可能存在对化学法干扰的元素,可用荧光进行半定量分析,进行排除。
3、还有可能就是基体校正系数如果采用经验系数法,该方式完全是数学计算得来的,如果基体差异过大,也会出现误差,例如:铁矿石中磷的含量很低,而你在系数计算时加入了磷;在测量高或低磷样品中的全铁时,就会出现较大的误差。
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