主题:【求助】为什么掠入射X射线扫描和常规扫描的峰不在一个位置啊?

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yan_huo
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我的样品是单晶si上镀的sic薄膜  用3°的掠入扫描基片si的峰在56左右  ,,用常规模式,就是测粉末的那种,测得基底的峰在69左右。  这有问题吗 ?  还有一个问题,单晶硅做xrd能有多个衍射峰还是就一个衍射峰啊?  求高人帮忙。
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yan_huo
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danyan0629
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我只能回答,单晶Si的衍射峰有多个,但是来源于互相平行的表面。例如(100)晶向的单晶Si,其XRD 2theta-Omeag扫描可以得到(100)(200)(400)等的衍射峰。
danyan0629
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至于GIXRD时Si在56°是有可能的。我不知道测试人员具体是怎么做的,但是如果之前不对设备进行校准的话,2theta的角度是有可能偏移的。以上仅为个人观点,我对GIXRD理解不够透彻,仅供参考。
XRD
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按照常规衍射,那么,参与衍射的面只是那些与样品表面平行的面(或者近似平行)。如果常规衍射时,只有69度的峰,说明Si是按(400)面切的,即(100)。现在,采用掠入射衍射,则衍射晶面就不是与样品表面平行的面,而一个与样品表面存在一个夹角的面。
在56度出现一个峰,是(311)面的。说明满足衍射条件的是(311)面。这两个面之间的夹角是25.25度。而56度的一半是28度,减去你掠入射角3度,就是25度。这里都没有考虑小数后面的数字了。

如果严格地按某个晶面切Si,那么在常规衍射中就只会出现一个峰,但是,如果不是这样,可能会出现几个峰。

我的几何太差,不知分析对否?
dfnt11
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至于GIXRD时Si在56°是有可能的。我不知道测试人员具体是怎么做的,但是如果之前不对设备进行校准的话,2theta的角度是有可能偏移的。以上仅为个人观点,我对GIXRD理解不够透彻,仅供参考。
yan_huo
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原文由 XRD(huangjw) 发表:
按照常规衍射,那么,参与衍射的面只是那些与样品表面平行的面(或者近似平行)。如果常规衍射时,只有69度的峰,说明Si是按(400)面切的,即(100)。现在,采用掠入射衍射,则衍射晶面就不是与样品表面平行的面,而一个与样品表面存在一个夹角的面。
在56度出现一个峰,是(311)面的。说明满足衍射条件的是(311)面。这两个面之间的夹角是25.25度。而56度的一半是28度,减去你掠入射角3度,就是25度。这里都没有考虑小数后面的数字了。

如果严格地按某个晶面切Si,那么在常规衍射中就只会出现一个峰,但是,如果不是这样,可能会出现几个峰。

我的几何太差,不知分析对否?


可是我算的400 面和311面得夹角并不是25度啊,你怎么算的是25度呢
大陆
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原文由 yan_huo(yan_huo) 发表:
可是我算的400 面和311面得夹角并不是25度啊,你怎么算的是25度呢

因为你算错了。
//我算的结果也是25度。
yan_huo
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不会吧 我算了几遍了 也算不出来是25度啊  我怎么算出来是76.7度呢
chengjingbao
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原文由 yan_huo(yan_huo) 发表:
不会吧 我算了几遍了 也算不出来是25度啊  我怎么算出来是76.7度呢


贴出计算过程不就得啦!
yan_huo
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