主题：IRIS INTREPID ICP-AES的两次曝光的技术说明

原文由 zhong421 发表:


一面之词,不用逐一推敲。

试举两例问：

1.Iris 号称分辨率最高（中文样本写0.005nm在200nm处），可英文样本上明明白白写的是pixel resolution（象素分辨率），能否提供热电官方网站上该资料的链接地址澄清此事。

2.稍微留意其光路图就能发现，棱镜的机械位置显然与光线平移距离有关。同时请问楼主，有没有发现两狭缝光路的入射角会有偏差，这是会带来光路偏移的！而检测器只有那么一点点大，一个细小的误差，可能就是几条谱线过去了。
    当然，完全无偏移是不可能的，谁家也做不到，但是也有优劣之分。
    进一步说明，用过热电仪器的人都会发现，我们分析的谱线是要我们手动的一个一个去定位的，之后才能得到谱线积分图。因为什么，就是应为光路的偏移，而且每次偏移都不一样。

    PE的4300做样我见过，根本不用手动地一个一个地定位谱线，直接刷的一下，出来的全是各谱线的积分图。为什么，说明光路稳定，光路的细小偏移根本不影响检测结果。

    至于楼主的解释，难免有穿凿附会之嫌呐。再说，不要一出手就把别人说的一无是处，做人要厚道。

原文由 moonhua2008 发表:
请问IRIS INTREPID 是什么意思啊,不好意思啊,新手,请多多指教啊,好好向大家学习

原文由 zhong421 发表:


一面之词,不用逐一推敲。

试举两例问：

1.Iris 号称分辨率最高（中文样本写0.005nm在200nm处），可英文样本上明明白白写的是pixel resolution（象素分辨率），能否提供热电官方网站上该资料的链接地址澄清此事。

2.稍微留意其光路图就能发现，棱镜的机械位置显然与光线平移距离有关。同时请问楼主，有没有发现两狭缝光路的入射角会有偏差，这是会带来光路偏移的！而检测器只有那么一点点大，一个细小的误差，可能就是几条谱线过去了。
    当然，完全无偏移是不可能的，谁家也做不到，但是也有优劣之分。
    进一步说明，用过热电仪器的人都会发现，我们分析的谱线是要我们手动的一个一个去定位的，之后才能得到谱线积分图。因为什么，就是应为光路的偏移，而且每次偏移都不一样。

    PE的4300做样我见过，根本不用手动地一个一个地定位谱线，直接刷的一下，出来的全是各谱线的积分图。为什么，说明光路稳定，光路的细小偏移根本不影响检测结果。

    至于楼主的解释，难免有穿凿附会之嫌呐。再说，不要一出手就把别人说的一无是处，做人要厚道。

原文由 天龙(xuexinlu) 发表:
关于IRIS采用UV（紫外）/VIS（可见）分开曝光的技术说明

1．由于IRIS Intrepid采用了高分辨分光系统和最宽的波长范围（165-1050nm），扩展的波长范围超出了CID检测器的感光面，因此采用UV（紫外）/VIS（可见）两次曝光的方式。采用UV（紫外）/VIS（可见）分开曝光的方式也更有利于两个波段各自的最佳聚焦。
2．由于ICP光谱在450nm以上波段会产生很强的氩（Ar）背景，在VIS（可见）谱段的谱线测量只需很短的曝光时间（一般为5秒），因此IRIS光谱仪尽管比一次曝光多了一次VIS（可见）波段的曝光，但时间很短（5秒钟左右），且在分析过程中全自动进行。如果样品中不测K、Na，Ba，Sr等长波元素，该仪器也只需一次UV（紫外）曝光。
3．UV（紫外）/VIS（可见）间的切换采用了专利技术（如图）。利用狭缝前的棱形镜的切入和切出，使光分别经过狭缝1（对应测量UV波段）和狭缝2（对应VIS波段）。由于该光线平移的距离只决定于棱形镜的形状，而与机械定位无关，因此有非常好的重复性。这样的切换无需整个光路的移动，稳定性好。

很有道理。但是靠机械切换，用久回出现机械故障，切换不了。我们就遇到这个问题，请工程师来只是松了松螺丝就可以了，但是要开光室，不敢自己弄。