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主题：【求助】PE和瓦里安ICP的CCD检测器抗溢出技术

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智慧的弟弟
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发表于：2010/04/15 16:27:33 楼主 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
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PE和瓦里安的全谱直读ICP的CCD检测器使用的是怎样抗饱和溢出技术？

知道其他厂家的也行，越详细越好！
推荐答案：小卢回复于2010/04/17
    CCD是电荷偶合固体检测器，是将电荷在检测单元之间逐个转移到一个具有电荷感应放大器的检测单元上进行读出，每个检测单元之间不是相互独立的，其具有较高的量子效率和光谱响应范围。因栅极对光的有强烈的吸收，因此一般采用背照射式，当有强光照射到局部CCD 时存在电荷溢出现象，一般依靠信号处理电路来解决检测器的溢出问题，属于破坏性读出。
补充答案：

jeff_liu回复于2010/04/27

    这就是CCD检测器的缺限了，溢出就会对附近的谱线有影响，检出的效果就得不到保障。上次有个法国JY的专家来我司介绍，他们用的HDD说是没有这个问题。期待有懂的人解释一下。

TK回复于2010/04/17

板凳，等答案：）

红土泥人回复于2010/04/27

这都是各厂家较核心的竞争技术，不会随便公开的，就像尾焰处理技术一样

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小卢
luxw
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2010/4/17 12:51:44 沙发 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
    CCD是电荷偶合固体检测器，是将电荷在检测单元之间逐个转移到一个具有电荷感应放大器的检测单元上进行读出，每个检测单元之间不是相互独立的，其具有较高的量子效率和光谱响应范围。因栅极对光的有强烈的吸收，因此一般采用背照射式，当有强光照射到局部CCD 时存在电荷溢出现象，一般依靠信号处理电路来解决检测器的溢出问题，属于破坏性读出。
该帖子作者被版主 shufengliu加 2积分， 2经验，加分理由：积极应助
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2011/6/4 10:19:44 Last edit by qlmkk
TK
flyingncu
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2010/4/17 16:10:20 板凳 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
板凳，等答案：）
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小卢
luxw
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2010/4/20 10:50:51 马扎 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
原文由 TK(flyingncu) 发表:
板凳，等答案：）

看来这个问题还是有点难度的！期待这方面的专家出来讲讲课。。。
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智慧的弟弟
tanghuizhi01
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2010/4/25 22:26:23 地毯 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
是因为太敏感还是因为？嘿嘿～
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红土泥人
fanlyy
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2010/4/27 12:59:06 地板 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
这都是各厂家较核心的竞争技术，不会随便公开的，就像尾焰处理技术一样
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jeff_liu
jeff_liu
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2010/4/27 23:05:25 6楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
    这就是CCD检测器的缺限了，溢出就会对附近的谱线有影响，检出的效果就得不到保障。上次有个法国JY的专家来我司介绍，他们用的HDD说是没有这个问题。期待有懂的人解释一下。
该帖子作者被版主 shufengliu加 2积分， 2经验，加分理由：积极讨论
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2011/6/4 10:19:18 Last edit by qlmkk
DANEL
zhong421
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2011/6/3 9:55:16 7楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
    检测器溢出是个伪命题，在实际工作中通常都没有溢出的问题，只有极少数极端情况下出现，在这样的情况下所有商品化的ICP检测器基本都溢出，最常用解决办法有换谱线、加衰减片、稀释
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2011/6/4 10:19:04 Last edit by qlmkk
purplehap
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2011/6/9 15:29:44 8楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
原文由 独行的智慧(tanghuizhi01) 发表:
PE和瓦里安的全谱直读ICP的CCD检测器使用的是怎样抗饱和溢出技术？

知道其他厂家的也行，越详细越好！


PE是采用了SCD的手段，varian是时钟结合系统。
但是都是在一定范围内解决了抗溢出，并没有完全解决，这是这种检测器本质上的缺陷；
而在采用这些手段抗溢出的同时，又引入了别的限制因素。
到底如何，仁者见仁吧。
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2011/6/9 15:48:53 Last edit by qlmkk
老冒李
lihongweibj
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2011/7/19 14:20:30 9楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
楼主玩单反吗？单反光圈、快门都可手调，可否自动？
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BUCTNT
caole
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2011/8/3 15:23:46 10楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
CCD天生的缺陷。只有CID检测器才能避免此问题。
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手机版： 【求助】PE和瓦里安ICP的CCD检测器抗溢出技术
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