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主题：【讨论】关于XPS能谱中C1s校正，出现C的来源？

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zhiluxinwu
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发表于：2010/04/29 11:15:38 楼主 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
各位大侠：

          本人做了XPS能谱，出现C1s能谱峰，关于其确切来源，不是很清楚。

          查阅一些文献
          有两种说法：一、本身材料中的污染，如样品制备中引入的C

                                二、 仪器自身引入，为了好标定

          关于具体归属问题，到底是前者多，还是后者多？ 不知是否有明确的解释和说明？

         

              各位大侠，请不吝赐教！

           
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linian322
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2010/5/6 16:09:40 沙发 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
同问！！我也有这问题
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charley86577
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2010/6/8 17:33:53 板凳 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
老兄，来错地方了把。
不过，我解释一下你的问题。这个问题没必要深究，一般来说是来自污染，比如说你的手接触过样品
正好C1s还可以作为标准来标定，也挺好的。

仪器自身引入，这种说法我个人觉得可信度不大。
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pinguo
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2010/6/8 17:46:36 马扎 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
一般来说都是样品中的污染。仪器自身引入的话，那么这样的仪器的数据还可以信吗？
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