【求助】X荧光光谱仪排除干扰方法

hsteel

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2010/5/24 20:47:20 11楼管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

这种由矿物效应引起的偏差，如果非得采取压片法的话，最后用相似组成的样品建立工作曲线，最大限度的减小矿物效应的影响。

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tyrantgqy

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2010/5/24 21:53:18 12楼管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

斜率常数为负，会不会是SiO2的含量过高导致了干扰，做个共存元素校正，去除干扰，试试看
在不能保证样品中几乎全部元素都能被测得的前提下，不要用归一化，那样会放大误差的

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相逢何必相识

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2010/5/29 18:55:37 13楼管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

既然压片法存在这么多问题，为什么不改用熔片呢
你斜率常数为负，也可能是你曲线中某些标样有问题
用生产样来做标准样品绘制标准曲线

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cearo

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2010/5/31 8:02:04 14楼管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

原文由 相逢何必相识(32022) 发表:
既然压片法存在这么多问题，为什么不改用熔片呢
你斜率常数为负，也可能是你曲线中某些标样有问题
用生产样来做标准样品绘制标准曲线

因为样品比较多，所以才决定利用压片法进行，对于重要样品采用融片法。
我是利用我们公司生产的样品来进行配置标样的，可是Al和Si的相互干扰就是无法排除。

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相逢何必相识

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2010/6/1 20:56:48 15楼管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

原文由 cearo(cearo) 发表:
原文由 相逢何必相识(32022) 发表:
既然压片法存在这么多问题，为什么不改用熔片呢
你斜率常数为负，也可能是你曲线中某些标样有问题
用生产样来做标准样品绘制标准曲线

因为样品比较多，所以才决定利用压片法进行，对于重要样品采用融片法。
我是利用我们公司生产的样品来进行配置标样的，可是Al和Si的相互干扰就是无法排除。

你确定你所配置的标准样品含量是准确的么？
看到你前面所说你采用了归一化，试将归一化取消看Si和Al哪个含量是准确的，最后采用差减法求另一元素含量。

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