主题:【讨论】如果粉体的形貌是片状的,是不是测试时容易出现一个小粒径的假峰

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恶狼
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各位,如题。测试的是石墨样品,电镜上看根本看不到3um以下的样品,但是用MS2000测试出来就有一个1~3um的小峰。
有哪位碰见过。
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mlb2003
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原文由 恶狼(citizen88) 发表:
各位,如题。测试的是石墨样品,电镜上看根本看不到3um以下的样品,但是用MS2000测试出来就有一个1~3um的小峰。
有哪位碰见过。
没有对比过,激光粒度报告里3um以下的样品比例有多大?会不会是实际存在但是看电镜时没有找到呢?
恶狼
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mattchen
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一個是以數量來計算 一個是以體積計算 是個觀念問題 以電鏡來看 你看到的是大顆粒的部分(3um)而小顆粒看不見是正常的 以粒度仪來看 通常粒度仪都是以體積計算 所以你看到小顆粒量多 故占的比例就大 相對的大顆粒因為數量少比例相對變少 就好比都以重量=體積  來計算好了 一個(1um)裡面有一千個(1000nm) 這樣應該可以容易理解
sollar
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原文由 恶狼(citizen88) 发表:
各位,如题。测试的是石墨样品,电镜上看根本看不到3um以下的样品,但是用MS2000测试出来就有一个1~3um的小峰。
有哪位碰见过。


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石墨粉是不是?石墨粉很轻,会浮在水面,激光粒度测定会有一定困难,电镜看3um一下的样品应该还是很容易吧,石墨粉的粒度很多都是亚微米级的
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