主题:【求助】哪位知道这是怎么回事呀?ARL4460

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lailai
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前天刚做完描迹,漂移校正,今天在做样时突然出现这么两个警报:
                                                                                                        1  w-info #162 ICS: IVFC,channel value read is set overflow
                                                                                                        2  w-info #920 ICS  Exception event on channel or condit  id#20
只知道是20号通道有问题,原先想着是不是描迹没做好,于是又重新做了一次描迹,结果在做漂移校正时,除了上面两个警报,又多了一个如下的警报。
                         
                                                                        3、w-Alarm #25: charge converter overflow or underflow
有哪位知道,这是什么原因,引起20号通道的问题。这几个警报反应在做样品时,就是20号通道做出的结果特别高,还有就是在刚出现问题时,这个通道做出的结果就特别高,在重新做完描迹,做漂移校正时,校正样品居然测不出强度。
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dyz
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该通道信号溢出。
不知道是什么基体,也不知道其他通道的漂移校正光强度变化情况如何,铝基好像容易出现这种情况。
如果其他通道信号和初始值比较正常的话,可以把这个通道的高压衰减位置调一下,将光强度数据降下来。如果所有通道的光强度与初始值比较都变化较大的话,建议你检查是否描迹位置错了,特别是最后一步,要将鼓轮回退到平均值位置。
此外,还要检查一下激发点是否正常,电极高度是否合适,电极尖端是否干净,火花室是否干净等等。
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lailai
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后来经检查,20号通道接触有问题,经过处理后,虽然做样时没有报警,但是在进行漂移更新时,用低标进行校正时,发现20号通道测的测量值扩大了10倍,而此时也没有了报警,但是用到高标校正时却出现了152#和920号警报,不知道是不是标样没有车好。希望能有更的人给予帮助,谢谢
wccd
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原文由 dyz(dyz) 发表:
该通道信号溢出。
不知道是什么基体,也不知道其他通道的漂移校正光强度变化情况如何,铝基好像容易出现这种情况。
如果其他通道信号和初始值比较正常的话,可以把这个通道的高压衰减位置调一下,将光强度数据降下来。如果所有通道的光强度与初始值比较都变化较大的话,建议你检查是否描迹位置错了,特别是最后一步,要将鼓轮回退到平均值位置。
此外,还要检查一下激发点是否正常,电极高度是否合适,电极尖端是否干净,火花室是否干净等等。

说的在理。
mlb2003
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原文由 lailai(lailai) 发表:
后来经检查,20号通道接触有问题,经过处理后,虽然做样时没有报警,但是在进行漂移更新时,用低标进行校正时,发现20号通道测的测量值扩大了10倍,而此时也没有了报警,但是用到高标校正时却出现了152#和920号警报,不知道是不是标样没有车好。希望能有更的人给予帮助,谢谢
看来应该是铝基的了,标样加工的和以前有什么区别么?觉得样品出问题的可能性不大,重新制样试一试,如果还是存在这种情况在按照dyz提供的方法试一试!在不行就联系仪器厂家的工程师吧!
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