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主题：【转帖】XPS and XRD

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xgq_2001
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发表于：2010/07/07 10:42:35 楼主 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
XPS: 测的是"binding energy"，分析后对应的就是元素的化学价态；同样价态的元素也会因为与之结合的元素不同，而导致binding engergy有差别。因此，XPS是分析元素价态和化合键的很好方法。
XRD：测的是不同物质的晶体结构。不同物质出峰位置不同是因为晶体结构不一样所致。所以，被测物质是晶体才会有峰。无定形态的，像低温生长的氧化铝，用XRD就什么也观察不到。

在比较XRD和XPS时，个人认为有很重要的两点：
1. XPS测出来的物质，XRD不一定能测出来。
2. XPS和XRD都可以选入射角，而且XPS的探测深度很有限，所以探测的样品深度也是考虑因素之一。在对比图谱时，探测深度相同的情况下，才有可比性。
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2015/6/6 13:46:00 沙发 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
谢谢知识分享！
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