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原文由 logiacn 发表:原文由 zzybzy 发表:
其实不是说CCD不好，而是仪器生产厂家在使用CCD作为检测器件的时候，为了降低成本，没有很好的满足CCD的使用条件。CCD器件最大的问题是信噪比的问题，ICP仪器使用它是要加入制冷系统，将CCD器件降温才能获得好的分析结果，而且ICP的使用一般是分析时先建立工作曲线，不采用工厂固化曲线，所以曲线的漂移基本上不太考虑。但是火花光谱仪则不然，由于需要使用十几块的CCD器件，所以不太容易给CCD加入制冷系统，而且由于CCD对温度比较敏感，环境温度每变化3度，则器件的噪声大约变化一倍，所以造成工作曲线非常容易漂移，使用时需要经常校准仪器，比较麻烦，这也是为什么CCD和CID在ICP上应用的比较多，而CCD火花光谱仪却不上档次的原因吧。
使用CCD检测器件的火花光谱仪全部是短焦距、色散比较小的仪器，虽然名义上可以选择使用的谱线比较多，但由于仪器的分辨率达不到，所以很多的谱线不能有效的避除别的谱线对它的干扰，简单说就是相邻的几条谱线互相重叠，真正能够很好使用的谱线其实更少，到目前为止，好像还没有哪个大型钢铁企业在炉前使用这种仪器吧。
CCD的光谱仪最大的优势就是价格便宜。
ARL最新的QUANTRIS仪器最多使用3块CCD，覆盖了全谱，不是向你所了解的那家公司仪器的设计方式，也不同于以前的仪器，在国内早已安装使用了。如果你有兴趣，可以练习ARL，在其上海的演示实验室有已经安装好的演示用的仪器，是多基体的，全都是覆盖了远紫外到红外的全谱。该仪器通电开机一般10-15分钟即可测试样品，漂移校正的间隔周期很长。ARL可以给你提供该类仪器在各种基体中的检出限和校正限，不会像有的厂家不敢提供这两项数据，因为校正限永远不可能低于检出限的！！
ARL QUANTRIS的性能不低于ARL3460型仪器！！
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描记就是寻找入射狭缝的最佳位置，避免因为环境等外界条件的变化引起的设备状态变化。