全反射X 荧光(TXRF)分析技术最早于1971年由Yoneda 等[1] 提出,二十世纪八九十年代我国中科院高能物理所[2]、近代物理所[3,4]、中国原子能科学研究院也开展相应的研究与开发。TXRF 分析技术突出的优点是检出限低(pg、ng/mL 级以下)、用样量少(μL、ng 级)、准确度高(可用内标法)、简便、快速,而且可进行无损分析,成为一种不可替代的全新的元素分析方法。从整个分析领域看,与质谱仪中的
ICP-MS 和GDMS、
原子吸收谱仪中的ETAAS 和FAAS 以及中子活化分析NAA 等方法相比较,TXRF 分析仪在检出限低、定量性好、用样量少、快速、简便、经济、多元素同时分析等方面都有着综合优势。
微波消解技术是一种新的试样消解技术,国内自1986 年首篇微波消解制样技术报告以来,近几年此方面的研究发展很快[5],已经广泛应用于消解食品、化妆品、冶金、地质、材料等。欧盟的RoHS 指令(Restriction of Hazardous Substance)规定对电子电气产品中铅、镉、汞等有毒有害元素的限量要求,我国七部委也发布《电子信息产品污染控制管理办法》,以控制和减少电子信息产品废弃后对环境造成的污染,促进生产和销售低污染电子信息产品,保护环境和人体健康[6]。本文成功地运用微波消解- 全反射X 荧光法测定聚丙烯材料中的铅、镉、汞等有害元素的含量,方法具有快速、准确、精密度高等优点,非常适合应用于RoHS 指令有害元素的检测。