3、 分光系统
分光系统也是采购考虑的重点对象,直接影响ICP-OES的分析性能,一般要求其波长范围至少在180-870nm(这个主要根据分析元素的需要来确 定,对于测定紫外波长的元素,可以考虑采购分析元素影响的波长范围),由于测定的稳定性、重复性和对紫外波长测定的灵敏度,一般对光室都采用驱气或真空方 式的恒温保护措施,光室是否进行特殊处理将影响光谱仪开机预热时间的长短和测定的精密度,至于分光系统中其他的色散元件在“
原子吸收光谱仪采购浅谈”一文 中已做了简单的探讨,在此主要针对目前各厂家比较常用的做个介绍。
3.1平面光栅光谱仪:主要用于单道扫描ICP-OES上,目前大部分 厂家的顺序扫描仪器都采用这种类型,如:VARIAN Liberty、海光SPS8000(使用两个光栅,其中凹面光栅做前置光谱分离,平面光栅做主单色器)、JY-ULTIMA2,比较特别的是GBC Integra XL,采用双光路即两个单色器。
作为顺序扫描ICP-OES,是按顺序一个一个地测定元素的,一般采用步进马达或电磁驱动转动光栅(还有一种是转动检测器的,如 LEEMANPROFILE、采用中阶梯光栅),在远离分析波长时采用高速转动,接近分析波长后,慢慢跨越并超过波峰位置,同时进行积分来测定的。由于具 有不可避免的机械和热不稳定性,不能直接转到波峰进行强度测定,寻峰扫描是在一定波长范围内进行的,测定信号必须要高出背景信号数倍才能出峰,在测定痕量 物质或有较大邻近线干扰时可能出现误寻峰的问题。与目前所谓的“全谱”相比,顺序扫描具有很大的价格优势和测定灵活性,从理论上讲可以用于元素所有谱线的 分析,适合于基体复杂多变和非标准样品的分析,更适合做仪器分析研究工作的人员。当然它也有一个弱点就是分析时间相对较长、氩气用量大,因此这两个参数也 是考查单道扫描ICP的重要指标。目前对于元素分析时间并没有一个统一的认识,建议采购时作为临时考查对象。计量要求:平面光栅光谱仪波长示值误差在± 0.05nm,波长重复性不大于0.01nm,对于实际分辨率要求其能完全分开Fe263.132nm和Fe263.105nm或者能分开 Hg313.155nm和Hg313.184nm即可。
3.2、凹面光栅光谱仪:此类型光谱仪以前主要用于制造多通道ICP发射光谱,也 属于多元素同时测定类型,结构简单,使用光学元件少、光栅本身兼色散、准直、成像功能,不存在色差,但像散比较严重。凹面光栅光谱仪没有使用反射镜,光损 失小,在短波方向进行准确分析是它的特点(如:斯派克的仪器可以测定130-190nm),可以用于测定波长小于190nm的元素,但是由于其狭缝、通道 有限和固定,因此限制了分析的灵活性和同时测定多元素的数目。