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X射线荧光光谱仪（XRF）
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主题：【求助】请问XRF是否可以测陶瓷的成分比

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zhouqixx
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发表于：2011/03/30 15:10:11 楼主 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
请问XRF是否可以测陶瓷的成分比，如Y2O3掺杂的ZrO2，假定氧化钇的计量的掺杂量为8wt%（即氧化锆占92wt%）,在后续工艺处理中，氧化钇的成分可能会偏差，不再是8wt%，请问能否用XRF测出氧化锆陶瓷中氧化锆与氧化钇的实际比列？精度怎么样？（如测到氧化钇为8.3%或者7.9%？是否可以到两位小数点？如7.90%）
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2011/3/30 15:13:49 沙发 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
如果可以测试的话，我想买台XRF仪器，相关仪器厂家看到消息，请留下联系方式，我会及时联系您，谢谢
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XRF_INFO
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2011/3/30 19:15:20 板凳 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
原文由 zhouqixx(zhouqixx) 发表:
请问XRF是否可以测陶瓷的成分比，如Y2O3掺杂的ZrO2，假定氧化钇的计量的掺杂量为8wt%（即氧化锆占92wt%）,在后续工艺处理中，氧化钇的成分可能会偏差，不再是8wt%，请问能否用XRF测出氧化锆陶瓷中氧化锆与氧化钇的实际比列？精度怎么样？（如测到氧化钇为8.3%或者7.9%？是否可以到两位小数点？如7.90%）


应该是可以测的。不过最好有标样，建立一条工作曲线，可以很准确的定量。有的单位测过BaTi比或者是SiCa比。两位小数是比较简单就可以达到的。
该帖子作者被版主 albert800922加 2积分， 2经验，加分理由：参与讨论
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hsteel
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2011/3/30 22:44:44 马扎 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
可能该类陶瓷的相关标样会很难找，这样的话如果用压片法的话精度可能偏差大点。况且楼主对精度要求相对较高，可以尝试用熔片法进行测量，不必囿于标样难找，同时满足楼主小数点后两位基本可以做到。
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金水楼台先得月
albert800922
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2011/3/31 9:08:13 地毯 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
原文由 hsteel(hsteel) 发表:
可能该类陶瓷的相关标样会很难找，这样的话如果用压片法的话精度可能偏差大点。况且楼主对精度要求相对较高，可以尝试用熔片法进行测量，不必囿于标样难找，同时满足楼主小数点后两位基本可以做到。


没有标样，用什么方法做曲线呢？
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hsteel
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2011/3/31 19:00:31 地板 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
用相关的基准或标准物质，比如含锆耐材标样还是很容易找到的，还可以找高纯钇的氧化物等等。
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sonne86400
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2011/4/1 9:25:19 7楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
可以到标准物质那边去买几块标样 给你非标做工作曲线 可以联系郭生15850195013 帮你解决
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hc-nono
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2011/4/13 21:48:01 8楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
这个精度可以达到，本公司XRF类仪器稳定性可以达到这样的要求，详情请联系15850385186 韩先生
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poplar_yang
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2011/4/14 2:20:48 9楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
氧化锆与氧化钇可以到两位小数点;

基准或标准物质可以from MS testing
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金水楼台先得月
albert800922
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2011/4/14 10:44:45 10楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
原文由 poplar_yang(poplar_yang) 发表:
氧化锆与氧化钇可以到两位小数点;

基准或标准物质可以from MS testing

用ICP-MS来定值吗，
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edxrf
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2011/4/20 8:14:58 11楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
肯定可以测的，只有氧化锆和氧化锆两个成份，用波长色散X荧光仪测量精度肯定没有问题的
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