主题：【求助】F-7000测量荧光量子效率的问题

原文由 jixf_1114(jixf_1114) 发表:
测定固体量子效率前，对于仪器有个性能验证及光谱校正的要求，包括：激发、发射波长的准确性，信噪比。激发光谱、发射光谱的校正。及长波长的校正，关于这些可以参照说明书。
之后在用积分球的情况下测定发射谱，确定最佳激发波长与发射谱范围。然后优化条件，调节狭缝与电压，使得激发光的散射光强度没有超出仪器检测限，而且发射光谱不能太弱了，并选择不同的扫描速度，比较重复光谱，确定最佳扫描速度。
再然后，才是用氧化铝测定激发光的强度，然后是激发光散射强度与发射光谱。再然后是间接激发的情况，然后是根据公式去计算得到绝对的量子效率。

步骤比较多，也很繁复。

原文由 jixf_1114(jixf_1114) 发表:
1,积分球两个孔都放氧化铝，注意是放在比色皿里面，然后氧化铝填的时候要结实点。然后用400激发，比如380到500扫描发射。这样400的那个峰的面积可以看成是激发光强度A。
，然后换上样品，注意样品在比色皿里面要尽可能的多，也要结实，否则会漏光。扫描后出来的发射谱，400的峰面积是B，样品的发射光谱峰面积是C
这样量子效率就是C/(A-B)
另外，按照手册，再去测定间接激发的量子效率

原文由 jixf_1114(jixf_1114) 发表:
相对法测定的时候才是需要相对标准物质的，主要用来测定液体类样品或者溶解后的。
积分球是用来测定绝对量子效率的.......

原文由 jixf_1114(jixf_1114) 发表:
黑屁股的是标准白板，软件本身已经记录了其各波长下的反射率（当然这个还可以到软件里面去修改，具体怎么就忘记了）。在校正的时候，有样品的情况......quote]

感谢解答，最后跟您请教关于如何测片状试样效率的问题。也就是如果做片状试样，如何在粉末试样的基础上进行修改，加粗蓝色部分是测粉末试样的过程，测片状试样应如何修正，请指教。

1.        积分球校正
积分球无样品下：左侧白板    前侧白板（代替氧化铝）  前侧reference reflectance material＋比色皿（这个应该是氧化铝？）
积分球有样品下：左侧白板    前侧standard  reflectance 前侧standard  reflectance  （带黑屁股的白板）   
2.      样品测量部分
积分球无样品下：左侧白板    前侧白板（代替氧化铝） 前侧reference reflectance material＋比色皿
积分球有样品下：左侧白板    前侧样品薄膜＋白板          前侧 样品＋比色皿