紫外可见分光光度计(UV)

主题:【分享】四探针电阻率测试仪

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sanjingjj
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四探针电阻率测试仪。

XH-KDY-1BS 型四探针电阻率测试仪是严格按照硅材料电阻率测量的国际标准(ASTM F84)及国家标准设计制造,并针对目前常用的四探针电阻率测试仪存在的问题加以改进。整套仪器有如下特点:

1、  配有双数字表: 一块数字表在测量显示硅片电阻率的同时,另一块数字表(以万分之几的精度)适时监测全过程中的电流变化,使操作更简便,测量更精确。



数字电压表量程:0—199.99mV


灵敏度:10μV


输入阻抗:1000ΜΩ


基本误差±(0.04-0.05%读数+0.01%满度)


2、可测电阻率范围:10—4 —1.9×104Ω·cm

可测方块电阻范围:10—3 —1.9×105Ω/□。

2、  设有电压表自动复零功能,当四探针头1、4 探针间未有测量电流流过时,电压表指零,只有1、4 探针接触到硅片,测量电流渡过单晶时,电压表才指示2、3 探针间的电压(即电阻率)值,避免空间杂散电波对测量的干扰。

3、  流经硅料的测量电流由高度稳定(万分之五精度)的特制恒流源提供,不受气候条件的影响,整机测量精度<3%。电流量程分五档:10μA、100μA、1mA、10mA、100mA。

4、  仪器采用触点电阻更低(<5mΩ)、使用寿命更长的转换开头及继电器(>10 万次),在绝缘电阻、电流容量方面留有更大的安全系数,提高了测试仪的可靠性和使用寿命。

5、  加配软件配电脑使用,实现自动换向测量、求平均值,计算并打印电阻率最大值、最小值、最大百分变化率、平均百分变化率等内容。

6、  四探针头采用国际上先进的红宝石轴套导向结构,使探针的游移率减小,测量重复性提高(国家知识产权局已于2005.02.02 授予专利权,专利号:ZL03274755.1)。
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