获得0积分，您同时完成了每日任务，有额外的积分奖励，请前往APP领取
立即前往
一般认为常规XPS的检出限为0.1at%,但要根据各元素的不同能级的灵敏度因子来确定。其实含量0.1%的元素很难进行价态分析。XPS只能常量分析，除非萃取等手段提高元素含量。XPS绝对定量分析很难，一般只能作些相对组分分析（包括价态含量）。即使是相对量分析，也要特别注意，如本底扣除方法，需要有些理论知识和实际经验。liuxiuwei回复于2006/03/14
这个测试用ICP当然就能搞定了，荧光也可以搞定阿，样品处理都简单，主要看你要求的精度。Liuxiuwei1@sina.com
小石头回复于2006/08/06
另外AES（俄歇电子能谱，Auger)对轻元素灵敏，TOF-SIMS 的英文 time of flight-secondary ion mass spectrometer
feixiong5134回复于2006/03/12
每次听吴老师的一席话,胜读十年书啊!什么时候才能有您怎么渊博的知识啊!羡慕! .
chemwarrior回复于2006/03/27
谢谢
长见识了
原文由 mybobo 发表:
谢谢版主！我还想再问个问题，XPS是不是只能得到固体样品表面几个纳米深度的信息，我想测的元素可能是存在于样品表面几个纳米深度之下，这样还能测到吗?或者采用什么制样方法，可以避免溅射无用的表层。
原文由 feixiong5134 发表:
不用客气。你得短信我已经看到，其实我也才搞XPS几个月。WUZL斑竹才是高手。
我看 文章上面说XPS一般采样深度为几个纳米，如果用角分辨XPS可以到十几个纳米，用深度剖析可以达到几百个纳米。缺点时前者操作麻烦，后者Ar离子有还原里面得氧化物得可能。如果你是怕表面被污染，那可以直接用刻蚀掉表面，但是它也有还原里面得氧化物得可能。
谢谢feixiong5134的回答，对我很有帮助。不过还原氧化物是我不想发生的，那我有没有其他的办法，比如改变制样方法？我记得好像有人将样品制成粉末，各个成分混合均匀然后再制备成测试样，这样测表层就可以得到想要的信息了。不知道这样可行吗？
BTW，WUZL斑竹如果有空看到这个帖子能不能给做些指点啊，多谢了！
我的社区
签到
迎国庆送壕礼！十月发帖抢大疆云台
【官方邀请】高效液相色谱使用情况有奖调研
喜迎国庆！第十七届原创大赛超级原创日参赛奖励翻倍
丹纳赫四十周年寄语征集领大礼包
