原文由 mybobo 发表:
谢谢feixiong5134的回答,对我很有帮助。不过还原氧化物是我不想发生的,那我有没有其他的办法,比如改变制样方法?我记得好像有人将样品制成粉末,各个成分混合均匀然后再制备成测试样,这样测表层就可以得到想要的信息了。不知道这样可行吗?
BTW,WUZL斑竹如果有空看到这个帖子能不能给做些指点啊,多谢了!
原文由 wuzl 发表:
一般认为常规XPS的检出限为0.1at%,但要根据各元素的不同能级的灵敏度因子来确定。其实含量0.1%的元素很难进行价态分析。XPS只能常量分析,除非萃取等手段提高元素含量。XPS绝对定量分析很难,一般只能作些相对组分分析(包括价态含量)。即使是相对量分析,也要特别注意,如本底扣除方法,需要有些理论知识和实际经验。
EDS和XPS的不同,分别叫做X射线能谱和X射线光电子能谱。激发方式和接受方式都不同。应用也有区别,前者用于体内(bulk)元素成分分析,后者用于表面(surface)元素组分和价态分析。等等。