主题:【求助】s-4800样品晃动问题

浏览0 回复13 电梯直达
hhammy
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公司测试样品时,在高倍率的情况下会发现样品晃动。样品固定没有问题,象散也调好了。
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小M
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hhammy
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恩。在样品晃动的情况下调的。慢扫描照片也是清晰的。只是做EDS有问题
ahu0030
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这个跟设备状态有关系,尽量调清楚,作EDS的时候把倍数放大点
fengyonghe
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原文由 ahu0030(ahu0030) 发表:
这个跟设备状态有关系,尽量调清楚,作EDS的时候把倍数放大点

其实做eds时所需的放大倍率是很低的,高放大倍率的能谱结果会有严重的基体干扰。看看下面的计算。
蓝莓口香糖
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fengyonghe
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原文由 蓝莓口香糖(drizzlemiao) 发表:
看不懂4楼的表格。

元素:Si  电镜高压10KV  激发的线系:K系  由上式计算的激发直径:1.5μ  放大到0.3/0.2mm所需的放大倍率
200/133倍  被测质点在1000倍下的直径要≥1.5mm 。
蓝莓口香糖
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fengyonghe
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如果在2000倍下测量基体Fe中的SiO2,要保证测量结果基本不受基体Fe的影响,在电镜图像上这颗SiO2的大小应大于3mm。这颗SiO2若小于3mm一定会在谱图上出现Fe的峰。
蓝莓口香糖
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这是由激发区域大小决定的,跟倍数没关系呀。如果2000倍下颗粒小于3mm,结果出现基体干扰,在500倍下做分析也仍然会有基体干扰。
linzq
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原文由 蓝莓口香糖(drizzlemiao) 发表:
这是由激发区域大小决定的,跟倍数没关系呀。如果2000倍下颗粒小于3mm,结果出现基体干扰,在500倍下做分析也仍然会有基体干扰。

是呀!冯老的意思你可能有误解,他只是在举例来说的明那个1.5UM的激发区在各不同倍数图像上的大小。
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