主题:薄带样品做TEM观察截面,该如何制样?请高手指教

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mickeycoco
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甩带制备的样品(厚度约30微米,宽度约1.5毫米),经过热处理发生了晶化,想做TEM观察一下晶化后的形貌,但是不知道改怎样制样。也查过一些资料,但是没有针对性强的,具体方法手段还是不清楚。

  听说要用到环氧树脂,固化,将要观察的截面露出,再抛光...
  那么,环氧树脂选什么型号的,具体操作步骤是什么,有什么注意事项,抛光该用什么,抛到什么程度...

    还望高手指点迷津!多谢啦
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怪味陈皮
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你也可以试试电解双喷或离子减薄,你的样品脆吗?如果比较脆,研磨一下也行。
天黑请闭眼
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如果只是想看结构,研磨即可。如果想看高倍的形貌,扫描电镜。如果想看低倍的TEM图像,直接固定样品到微栅或者碳膜上即可。
打磨或者切片是不是太麻烦了?
mickeycoco
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没有做过TEM,知道的很少。还想了解得细一点:

电解双喷和离子减薄具体是怎样进行的呢?
我的样品是比较脆的。制备态为非晶合金,具有柔韧性;经过热处理之后,样品变脆,因为非晶基体中生长出了纳米晶粒,大概几十到上百纳米。晶粒的分布和尺度的大小决定了样品的某些性能。想看到样品中晶粒分布的情况,以及晶粒的大小,该怎样测,研磨能做到么?要磨多细?

Thanks!
mickeycoco
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是想看非晶基体中晶粒的大小和分布情况。晶粒尺度大约几十到上百纳米。SEM和TEM那个能达到我的目的呢?如果用扫描电镜,样品要如何处理;如果看低倍的投射电镜,样品是不是也要处理一下?以前从未做过,所以问题比较多


Thanks!


天黑请闭眼
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原文由 mickeycoco 发表:
是想看非晶基体中晶粒的大小和分布情况。晶粒尺度大约几十到上百纳米。SEM和TEM那个能达到我的目的呢?如果用扫描电镜,样品要如何处理;如果看低倍的投射电镜,样品是不是也要处理一下?以前从未做过,所以问题比较多


Thanks!



从你得要求来看,可以看EBSD,或者用ustb版主说得方法处理样品后高分辨TEM观察了。
baoshics
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呵呵,我才看到这论坛,我刚刚做了非晶晶化后的TEM,效果还不错,我的是研磨成粉状,然后包埋法制成薄片,离子减薄。
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