主题:【求助】X荧光高含量样品如何稀释

浏览0 回复14 电梯直达
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X荧光光谱分析中遇到高含量样品怎么办?还想用X荧光做如何稀释呢??求教各位达人
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aymonkey
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X荧光光谱分析的优势在高含量,是什么样品还想用X荧光做如何稀释呢?具体点,探讨一下
XRF_INFO
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qcz9999
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用XRF测高含量得逞分尸一般不需要做稀释,否则也会带来不必要的麻烦
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是测Nb Ta 的几个样品,先做了个半定量,有一个样品半定量的结果都到了30%,我是用土壤标准做的曲线,最高一点才是Nb 300ppm  Ta 573ppm。测了好几回高含量的Nb Ta ,Nb还可以,Ta 低含量和高含量的曲线斜率都不一样,郁闷的很,求教各位。。。
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原文由 aymonkey(aymonkey) 发表:
X荧光光谱分析的优势在高含量,是什么样品还想用X荧光做如何稀释呢?具体点,探讨一下

是测Nb Ta 的几个样品,先做了个半定量,有一个样品半定量的结果都到了30%,我是用土壤标准做的曲线,最高一点才是Nb 300ppm  Ta 573ppm。测了好几回高含量的Nb Ta ,Nb还可以,Ta 低含量和高含量的曲线斜率都不一样,郁闷的很,求教各位。。。
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原文由 qcz9999(qcz9999) 发表:
用XRF测高含量得逞分尸一般不需要做稀释,否则也会带来不必要的麻烦


是测Nb Ta 的几个样品,先做了个半定量,有一个样品半定量的结果都到了30%,我是用土壤标准做的曲线,最高一点才是Nb 300ppm  Ta 573ppm。测了好几回高含量的Nb Ta ,Nb还可以,Ta 低含量和高含量的曲线斜率都不一样,郁闷的很,求教。。。
波斯猫
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貌似你这样稀释样品的方法也不对啊,最好另外选择一组标样做曲线
zhangjiancn
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你不应该稀释呀,高含量才能测准呀,你需要改变分析曲线测量范围,就是人工+入的方式,千万不能用土壤等不同基体的曲线分析,会有很大的误差的。
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原文由 zhangjiancn(zhangjiancn) 发表:
你不应该稀释呀,高含量才能测准呀,你需要改变分析曲线测量范围,就是人工+入的方式,千万不能用土壤等不同基体的曲线分析,会有很大的误差的。

曲线里是要加入纯物质的标样吗?样品也是土壤按说与曲线标准基体相仿,只是含量太高,超出曲线最高点很多了
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原文由 zhangjiancn(zhangjiancn) 发表:
你不应该稀释呀,高含量才能测准呀,你需要改变分析曲线测量范围,就是人工+入的方式,千万不能用土壤等不同基体的曲线分析,会有很大的误差的。

求教,人工加入是指陪标准曲线吗?请详细说明
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