主题:【原创】【线上讲座167期】关于X荧光光谱分析中存在的一些误区

浏览0 回复125 电梯直达
秋月芙蓉
结帖率:
100%
关注:0 |粉丝:0
新手级: 新兵
该帖子已被ljhciq设置为精华;
悬赏金额:180积分 状态: 已解决

欢迎大家前来与zhangjiancn老师一起就X荧光光谱分析中存在的一些问题进行探讨~!活动时间:2012年4月04日——2012年4月18日


【线上讲座167期】关于X荧光光谱分析中存在的一些误区


主讲人:zhangjiancn  XRF版面版主

活动时间:2012年4月04日——2012年4月18日



我们热烈欢迎zhangjiancn老师光临X荧光光谱版面进行讲座!




导言:

      X 射线荧光分析技术(XRF)作为一种快速分析手段,为我国的相关生产企业提供了一种可行的、低成本的、并且是及时的,检测、筛选和控制有害元素含量的有效途径;相对于其他分析方法(如发射光谱、吸收光谱、分光光度计、色谱质谱等),XRF 具有无需对样品进行特别的化学处理、快速、方便、测量成本低等明显优势,特别适合用于各类相关生产企业作为过程控制和检测使用。
  那么,在
X荧光光谱仪的分析应用当中,存在着哪些检测分析方面的误区呢?我们有请zhangjiancn专家详细到来更欢迎同行版友到版面交流学习、切磋探讨,共同进步!




目录:

1、关于X荧光光谱分析特点

2、灵活应用

3、方法对仪器的影响

4、样品对仪器的影响

5、那种压片精度高?

6、不要忘记基体校正

7、熔融要灵活



欢迎大家前来与zhangjiancn老师一起就X荧光光谱分析中的应用知识进行交流~!以上为zhangjiancn老师所著,未经zhangjiancn老师和仪器信息网同意任何个人和单位禁止转载!!!


提问时间:2012年4月04日--4月18日
答疑时间: 2012年4月04日--4月18日



特邀佳宾:

数据处理版面的版主以及从事此行业的专家
参与人员:仪器论坛全体注册用户

活动细则:

1、请大家就X荧光光谱分析应用遇到的相关问题进行提问,直接回复本帖子即可,自即日起提问截至日期2012年4月18日
2、凡积极参与且有自己的观点或言论的都有积分奖励(1-50分不等),提问的也有奖励
3、提问格式:
为了规范大家的提问格式,请按下面的规则来提问 :
zhangjiancn老师您好!我有以下问题想请教,
请问:……



说明:
本讲座内容仅用于个人学习,请勿用于商业用途,由此引发的法律纠纷本人概不负责。
虽然讲座的内容主要是对知识与经验的讲解、整理和总结,但是也凝聚着笔者大量心血,版权归zhangjiancn和仪器信息网所有。
本讲座是根据笔者对资料的理解写的,理解片面、错误之处肯定是有,欢迎大家指正。

推荐答案:zhangjiancn回复于2012/04/04


X荧光光谱分析由于基体影响较严重,所以必须对不同的样品建立各自的分析曲线,对于合金分析,粉末压片法存在一定的标准偏差,这些偏差对于高组分,可能超差,如果分析低组分,可能就能满足分析要求。如采用粉末压片法分析硅铁,测量硅元素可能超差;而测量如磷等低组分元素可能就不超差。
为您推荐
专属顾问快速对接
获取验证码
立即提交
秋月芙蓉
结帖率:
100%
关注:0 |粉丝:0
新手级: 新兵

关于X荧光光谱分析中存在的一些误区



        X荧光光谱仪由于具有分析快速、制样简单,准确度高、对环境无污染等优点,现已广泛应用于各个领域,成为理化检验不可或缺的设备。X荧光光谱分析的发展历史较长,是随科技的全面进步,进行了无数次的革命性的改进,其硬件及软件由最初的单纯定性发展直至今天的精确的定量分析。在这发展过程中,各种适应当时仪器水平的理论、方法等应运而生,特别是在60~80年代,当时为国内大的科研院所引进了大量的X荧光光谱仪,许多当时的国内精英从事X荧光分析工作,由于他们的参与,使得X荧光光谱分析在理化分析领域,形成了一套完整的分析体系,既有完整的分析理论作为基础,又有适合当时仪器分析水平的大量的应用经验,涌现出大量的教材及应用文章。
    正是由于这些时代的烙印,才使得人们习惯了引用学习,照搬一些现成的成果,才忽略了仪器发展的新技术及新水平,使得有些人在
X射线荧光光谱分析工作中,存在一些认识上的误区,对我们的仪器使用及仪器效能的发挥起到了负面的作用,有些还对仪器的使用寿命产生了影响。
    本人在
X荧光岗位工作近20年,起初也有很多误区,通过不断的学习和试验,才逐渐发生了转变。下面就我的在工作中积累的一些心得,简单介绍给大家,起抛砖引玉的作用。由于本人水平有限,可能很多的谬误,请同行进行多多指正,本人将不胜感激。





1、
关于X荧光光谱分析特点

    由于X射线荧光的能量比较大,样品被激发后,产生的特征X射线极易被吸收,而从样品中发射出来的荧光很少,也即是荧光产额很少。因此采用X荧光光谱仪测量微量元素,不是特长,因此不要把精力过分地放在低含量元素分析上。同理,对于轻元素,如硼、碳、氮、氧等,也不要指望有多好的检出限;但对于高含量的轻元素分析,却有很高的精度。本人曾分析生铁中3%左右的碳,标准偏差不超过0.1%;分析钼铁中60%左右的钼,误差不超过0.2%;分析硅石中90%左右的二氧化硅的含量,误差不超过0.3%等。而对微量元素,镁的检量限,低于0.01%,峰几乎没有了;钠,低于0.05%,峰也没了,连强度都没了还怎么测?由此说明X荧光光谱仪适合于高含量分析,而不适合微量元素的分析。


赞贴
0
收藏
0
拍砖
0
2012/4/4 12:04:33 Last edit by ljhciq
秋月芙蓉
结帖率:
100%
关注:0 |粉丝:0
新手级: 新兵
2、灵活应用

    经常有些调研、参观的应用人员问我:你用X荧光光谱仪分析什么样品?我对他说,你应该问我什么不能用荧光分析。什么意思?就是几乎任何样品都可以用荧光分析,但不是全部元素,如:铁矿石,你没必要分析其中的氟、硼等,测也测不准,又如锰铁合金,压片测锰元素测不准,你可以测其它元素如硅、锰、磷等还是很准的。又如萤石,你可能氟测不准,但你可以测量元素其它元素。当然以上都要进行强度校正,如果系数过大,也可以采用参考浓度校正。

3、方法对仪器的影响

    往往我们的一些用户在仪器使用过程中,按照厂家提供的说明书去使用仪器,我不反对这么做,但要具体情况具体分析,否则有些操作会对仪器产生负面的影响。例如:13千瓦功率的仪器,在分析条件设置时,非要对轻元素采用30KV-100mA;而对重元素非要采用60KV-50mA的条件设置,致使仪器在极限条件下工作,如果是新仪器,这样操作肯定会影响仪器的使用寿命,如果是老仪器,可能就要了仪器的老命了。其实我们就采用折中的方式,就用50KV-50mA就很好,因为很少有样品必须要你这样去分析,如果实在没办法,对不起,你买一个更大功率的仪器去分析,这样会极大的提高仪器的使用寿命。还有的仪器,采用固态高压发生器,一会把功率调到60KV-10mA;一会又30KV-100mA,来回折腾高压发生器,象做破坏性试验,这些理论上完全可以,就像1个人可以百米冲刺一样,如果时时百米冲刺地跑路,人会累死,仪器也强不了多少。所以我们一定要体谅仪器的能力,不要一下耗尽它的全部性能,只有让仪器轻松工作,它才不容易“生病”。

4、样品对仪器的影响

    如果对样品不甚了解,请不要将未处理的样品直接采用X荧光光谱分析,否则可能对你仪器造成致命的伤害。例如样品中含有挥发性酸,如盐酸、醋酸(样品夹杂测量中,样品用酸处理,挥发不干净)等,这些样品一旦进入仪器内部在抽真空时,挥发到晶体、X光管、探测器等,都会都会造成致命的伤害;如果环境酸性物质多,也同样会造成仪器的损伤。还有1个就是水分,样品未经过烘干处理,带有水分进入仪器,也会挥发,日积月累也会腐蚀仪器,如有些用户,仪器没使几年,光管铍窗破了;晶体潮解了;探测器窗口破了等问题,其中有些就是用户没有注意样品存在的危险性,如炉渣中的硫化物,都能闻到刺鼻气味,还压片分析,岂不知对仪器的伤害有多严重。

5、那种压片精度高?

    关于粉末压片的样品制备,过去一直采用铝杯法,随机误差大,硼酸衬底法误差更大,一次偶然的参观,发现了粉末塑料环法的优势,某铁合金厂,在分析锰铁合金时,含量高达80%的锰元素,所有双样绝对误差控制不超过0.1%!这是我从来没有想到粉末压片能够达到如此的精度。如果谁的其它方式粉末压片精度能超过他们,请不吝赐教,我认为这是绝无仅有的。





赞贴
0
收藏
0
拍砖
0
2012/4/4 12:07:07 Last edit by ljhciq
秋月芙蓉
结帖率:
100%
关注:0 |粉丝:0
新手级: 新兵
6、不要忘记基体校正

    有些用户在建工作曲线时,总是认为很简单,特别是粉末压片法。一般来说轻元素对重元素的吸收是永恒的,至于增强就不一定了,所以建议大家还是考虑基体校正,可以使你的分析误差更小。当然了,如果你标准样品少的话,不要采用经验系数法进行全元素校正,这样会给你1个虚假的“完美曲线”的陷阱,因为这完全是数学计算出来的,如果分析的样品非与标样类似,可能产生更大的误差。





7、熔融要灵活

    在熔融法制样时,大家通常采用四硼酸锂单一或四硼酸锂+偏硼酸锂混合熔剂作为熔剂,但只是按大家通用模式或厂家提供的比例。其实我们应该按照样品的性质、需要分析的元素来衡量采用什么熔剂或熔融温度、时间等。例如:如果分析样品中的氟,你最好的方法是采用低熔点的熔剂(甚至添加助熔剂、如氯化钠等降低熔点)熔融,以免氟的挥发;反之如果你熔融难熔的物质,如铬矿等,你必须提高熔融温度来保证样品熔融完全。这些灵活的熔融方式包括:熔剂的选择;熔融温度的选择,熔融时间的选择,样品熔融流动性的控制,样品的挥发性控制等等。

赞贴
0
收藏
0
拍砖
0
2012/4/4 12:04:11 Last edit by ljhciq
=牛牛=
结帖率:
100%
关注:0 |粉丝:0
新手级: 新兵
学习了 谢谢zhangjiancn老师
请教下对于一般的合金粉末样品,压片法现在的精度能达到多少了,据说如果粒度能有保证的话,效果可直比熔融法,zhangjiancn老师对此怎么看?标准样品少的话,不要采用经验系数法进行全元素校正,那如何进行曲线拟合,分析样品与标样即使不同是不是可以加个校正系数加以校正?再请教下如果用荧光做样铁样品的的话需要不需要自建工作曲线,准确度如何?谢谢
该帖子作者被版主 ljhciq8积分, 2经验,加分理由:鼓励提问
云☆飘☆逸
结帖率:
100%
关注:0 |粉丝:0
新手级: 新兵
请教下对于一般的合金粉末样品,粒度一般要求多少?180目左右吗?
该帖子作者被版主 ljhciq3积分, 2经验,加分理由:鼓励提问
=牛牛=
结帖率:
100%
关注:0 |粉丝:0
新手级: 新兵
ZHANGJIANCN老师说X荧光光谱仪适合于高含量分析,而不适合微量元素的分析,析,请教下多低的含量荧光做的效果就不好了呢,高的情况下能做到多高,比如纯铜,九十多的可以定量吗?谢谢
该帖子作者被版主 ljhciq5积分, 2经验,加分理由:鼓励提问
容百川
结帖率:
100%
关注:0 |粉丝:0
新手级: 新兵
zhangjiancn老师您好!我有以下问题想请教,
请问:1、关于X荧光光谱分析特点中提到,XRF不适合检测微量元素含量,其中这个量的把握您提到一些值,我的问题是:
1.对土壤Hg、Pb、Gr、As、Cd等检测,您觉得合适吗?
2.“由于X射线荧光的能量比较大,样品被激发后,产生的特征X射线极易被吸收,而从样品中发射出来的荧光很少,也即是荧光产额很少”在您遇到的检测中环境中,吸收特征X射线的物质有哪些呢?
谢谢
该帖子作者被版主 ljhciq10积分, 2经验,加分理由:鼓励提问
秋月芙蓉
结帖率:
100%
关注:0 |粉丝:0
新手级: 新兵
原文由 容百川(jjwws) 发表:
zhangjiancn老师您好!我有以下问题想请教,
请问:1、关于X荧光光谱分析特点中提到,XRF不适合检测微量元素含量,其中这个量的把握您提到一些值,我的问题是:
1.对土壤Hg、Pb、Gr、As、Cd等检测,您觉得合适吗?
2.“由于X射线荧光的能量比较大,样品被激发后,产生的特征X射线极易被吸收,而从样品中发射出来的荧光很少,也即是荧光产额很少”在您遇到的检测中环境中,吸收特征X射线的物质有哪些呢?
谢谢
“1.对土壤Hg、Pb、Gr、As、Cd等检测,您觉得合适吗?”,应该为Hg、Pb、Cr、As、Cd吧?
土壤中Pb、Cr、As稍微高点,数值在几十到几百PPM,估计XRF不行吧,火焰原吸和ICP适宜
lzy20050916
结帖率:
100%
关注:0 |粉丝:0
新手级: 新兵
zhangjiancn老师您好!我有以下问题想请教,
请问:

1、制备粉末压片的方法:

    a、铝杯法,随机误差大,

    b、硼酸衬底法误差更大,一次偶然的参观,发现了

    c、粉末塑料环法的优势,—— 能否详细说说?
该帖子作者被版主 ljhciq8积分, 2经验,加分理由:鼓励提问
秋月芙蓉
结帖率:
100%
关注:0 |粉丝:0
新手级: 新兵
zhangjiancn老师您好!我有以下问题想请教,
X荧光光谱为固体直接进样,请问有机物和无机物,在XRF检测中有差异吗?哪个更准?
该帖子作者被版主 albert8009222积分, 2经验,加分理由:鼓励提问
品牌合作伙伴