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原文由 fengyonghe(fengyonghe) 发表:
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“打成分放大这个方法是我的supervisor告诉我的
因为电子束做spot时可能会打偏 所以放大这样会尽量避免”导师说的是对的，但是把待测质点放的很大去测量要保证x-射线产生范围不超过被测质点。你样品中的“黑相尺寸确实很小 到了2μm左右”。但是加速电压为20千伏时X－射线在石墨中的产生范围是4.8μm。如果你把2μm的质点放大到满屏，那么X－射线在石墨中的产生范围是4.8μm就放大到了两倍的满屏。虽然能谱测量所显示的取样点很小，尽管你可以把取样点放在屏幕的中心，能谱仪必定会收集到基体铁的X-射线。
“这个相有可能是cementite吗？”不是cementite。因为其形貌不符合cementite的特征。该种相硬度很高在扫描电镜下与基体亮度差不多。
“老师 这个是怎么算的 能麻烦您给我公式吗？”
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