主题:[讨论]过焦还是在欠焦

浏览0 回复3 电梯直达
hunterwang
结帖率:
100%
关注:0 |粉丝:0
新手级: 新兵
常规的TEM成像或衍射操作,大家习惯是调节亮度旋钮让beam过焦还是欠焦?Goodhew说永远让beam处于过焦状态,这样得到beam更平行,总觉得没有道理。实际操作感觉区别不大。不知道各位的习惯是什么?
为您推荐
您可能想找: 气相色谱仪(GC) 询底价
专属顾问快速对接
立即提交
可能感兴趣
hunterwang
结帖率:
100%
关注:0 |粉丝:0
新手级: 新兵
原文由 hunterwang 发表:
常规的TEM成像或衍射操作,大家习惯是调节亮度旋钮让beam过焦还是欠焦?Goodhew说永远让beam处于过焦状态,这样得到beam更平行,总觉得没有道理。实际操作感觉区别不大。不知道各位的习惯是什么?


Rodenburg said:
the system is usually designed in such a way that the illumination is parallel at the specimen when the intensity (C2) knob is high.
http://www.rodenburg.org/guide/t1100.html
Peter Goodhew sadi:
when overfocused, beam convergences substantially because electrons come from only cross-over only
http://www.matter.org.uk/tem/lenses/beam_convergence.htm

个人觉得Rodenburg的解释更合理,见他网页中的ray diagram
怪味陈皮
结帖率:
100%
关注:0 |粉丝:0
新手级: 新兵
调整电镜状态和使用时C2都是处在过焦状态(右旋,强度变弱),过焦状态时的照明孔径焦比欠焦时的照明孔径角小,因此相干性比较好。如图,照明孔径角的确定。a是正焦,b是过焦,c是欠焦


hunterwang
结帖率:
100%
关注:0 |粉丝:0
新手级: 新兵
仔细看了版主的图,明白了问题的关键在于spot size即cross-over的大小,在过焦状态下,spot size和cross size最小,因此,从cross-over照向样品的发散角也小。但其实总的电子束发散角是最大的(与其它两种聚焦状态相比),因此强度更弱些。
非常感谢。
猜你喜欢最新推荐热门推荐更多推荐
品牌合作伙伴