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X射线衍射仪（XRD）
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主题：【求助】XRD分析问题

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hxing
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发表于：2012/07/05 10:14:54 楼主 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
大家好，近来在测试XRD时，遇到一些问题，找了好久也没弄明白，想向大家请教。
        首先，从XRD衍射图上，我们如何判断所测试的 薄膜的质量（结晶晶化的好坏、晶粒尺寸等等），特征峰的强度和半高宽能给我们提供薄膜样品的哪些信息呢。

        其次，我看到一些论文中，XRD衍射图在没有特征峰的位置几乎是一条直线，我所做的测试结果却是 一条弯曲的线条呢（如下面两幅图所示），是不是要扣除背底呢，那么如何扣除背底呢？请大家不吝赐教，谢谢！

    上图 为论文中的XRD衍射图

此图 为我的测试结果XRD衍射图（上下为同种物质）
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2012/7/5 16:28:01 沙发 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
不知你用的是哪家的仪器，各家的仪器都有相应的软件，你的问题基本上都能在这些软件上解决
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hxing
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2012/7/6 9:35:36 板凳 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊

    你好，我用的XRD型号是PANalytical PW3040/60，我还没找到在这个设备上处理数据的方法。
    另外，从XRD衍射图上，我们如何判断所测试的 薄膜的质量（结晶晶化的好坏、晶粒尺寸等等），特征峰的强度和半高宽能给我们提供薄膜样品的哪些信息呢。谢谢了！

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2013/4/15 11:52:26 马扎 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
晶粒尺寸根据半高宽来算，总体的说衍射峰越窄晶化效果越好！
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