原文由 xiaoxun929(xiaoxun929) 发表:原文由 悠旸(ihqs) 发表:
检出限肯定比轴向观测高多了,跟垂直炬管侧向观测大体相当。
我大概看过双向光路图,其中轴向观测是没有问题的,直接进行观测,
而侧向观测则是通过几个光学镜面反射后才能进入光路,才能达到检测目的,而镜面反射势必造成光量值的损失啊。
该检出限和垂直炬管侧向能相当吗?
尤其是对于分析钢铁,合金这类样品,不知双向观测中的侧向观测是否可以完美测试,
基体干扰现象,背景噪声等能否和垂直炬管相当呢?
谢谢。
原文由 xiaoxun929(xiaoxun929) 发表:原文由 四年(btxg1985) 发表:原文由 xiaoxun929(xiaoxun929) 发表:原文由 四年(btxg1985) 发表:
PE5300,没用过径向的测试过样品,不过在调最佳观测点时测10ppm的锰强度还比不上轴向观测1ppm锰强度。
那你用的是5300DV咯,那么你们平时使用侧向观测这种方式吗,你们经常测试什么样品。谢谢。
从未用侧向观测这种方式检测过样品,平时都是测塑胶,涂层酸消解样品玩具类的。
原来大侠是在做玩具的,咨询下,做玩具类的样品,一般需要什么前处理设备,,多谢。。。