主题:[求助]请教Di的afm图象离线处理(Nanoscope5.30r3sr3版本)及一些其他小问题

浏览0 回复13 电梯直达
Hansen
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原文由 AFMRAMAN 发表:
1、analyze,modify下bearing\grain size\roughness\plane fit auto/autostepheight/highpass/lowpass具体是对图象做什么方面的处理,可否给我稍微讲一下呢,看软件手册说明书,英文的看起来很吃力

在bearing曲线上,你可以看到在任何一个层面上,容积所占的比例。我们的中文彩页上将其直译为“权重分析”
grain size可以分析颗粒度等,要求设定相应的选点范围;
roughness分析表面粗糙度。注意,并不只是屏幕上显示的东西你才可以得到。用户可以设置显示哪些参数
...
去看一下手册或者给我们打电话联系。用户应当有售后服务工程师的电话。如果没有,可以联系Veeco北京,找应用工程师咨询。(010-82512606)
2、contact模式下执行前,为什么先将电压调到-2V左右呢,而tapping模式下则为0V?

接触模式下,探针接触表面之后会有一定的弯折,这会使光斑向正电压方向偏移。接触上之后电压为零,此时PSPD的响应最敏感(直观想象:两边各有最大的空间)。而Tappingmode,针尖是暂接触式的。并不需要考虑悬臂弯折的问题,所以自由状态下,设置光检测器电压为0
3、液体条件下,针尖逼近样品表面过程中,当接触液体表面时,由于表面张力的作用,此时sum值减小至零左右,为了能继续逼针我们接着将激光光斑调至稍远离针尖,但当我继续调时,就出现一片漆黑的现象,那是什么原因呢,我就不敢继续往下调了,请教我该怎么调呢?

不是表面张力的问题,是折光率的问题。只要调节一下反光镜,就可以了。
4、测afm的样品表面起伏有什么要求呢,工程师当时说尽量不要测高达几个微米级的样品,那我怎么确定样品起伏有没高于那限定呢?
请大家帮帮忙,谢谢了!!

AFM扫描器都有最大的z向伸缩范围。一般要求表面起伏不要超过1/2 最大伸缩范围,即几个微米
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