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ID:denqinamao
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ID:dog_tiger
ID:110sl119
ID:stony007
ID:wbslandy
ID:smartfalcon
原文由 feiliao 发表:在Si片上镀一层非晶碳膜(厚度为几十个nm,导电性能较差),用金刚石刀直接切割出试样,然后进行SEM观察,希望得到薄膜的厚度。第一次去做时表面没有喷金,看到的断面效果也很差,很难清楚的看到薄膜与基体的分界面。请问喷金(应该不能喷碳)以后能看到清楚的界面吗?我看别人论文里面的图都非常清楚,不知何故?希望得到各位前辈的请教!
ID:263
ID:phoenixprince
ID:dualbeam