原文由 zzhangqqi(zzhangqqi) 发表:原文由 iangie(iangie) 发表:
你在说粉晶XRD还是一楼的单晶XRD? 单晶XRD只有斑点没有峰...
我的样品是聚合物薄膜 厚度大概0.3mm左右 我想知道它的晶型和结晶度,但不知道具体用什么方法
原文由 iangie(iangie) 发表:原文由 zzhangqqi(zzhangqqi) 发表:原文由 iangie(iangie) 发表:
你在说粉晶XRD还是一楼的单晶XRD? 单晶XRD只有斑点没有峰...
我的样品是聚合物薄膜 厚度大概0.3mm左右 我想知道它的晶型和结晶度,但不知道具体用什么方法
直接用x射线穿透你的薄膜在背后接受衍射就是一楼的单晶XRD图像, 看斑点, 需要比较特殊的面探和单晶衍射仪.
把你的薄膜平铺在自转台上用反射模式测的就是谱, 看峰, 一般的粉晶XRD就可以做.
峰多峰少跟探测器效率有关, 只要两个主峰位置想同就是正确的.
说那么多你还不如上两张图比较一下.........唉