主题：【求助】关于WD原理以及仪器工作的三个不解

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1.    原子结构上，电子离核越远越不稳定，在连续X射线照射时，为什么外层的电子没有击出而是内层的电子击出，外层向内层跃迁才产生特征X射线？

都会被击出，激发内层电子需要更高的能量。但X荧光只关注内层电子被击出后发生的情况。

2. 某个角度，满足布拉格公式的某个波长的特征X光在衍射侧相互叠加光线加强才被检测器检测到进而测的其含量，其他波长的光因为不叠加而减弱，所以不被检测到，此是XRF定性的原理吗？假如某个光的波长是另外一个的整数倍的话，在衍射侧也应该是加强的，也应该被检测到，两种元素的特征光混淆了？

如果刚好整数倍的话肯定无法分开。但波散分辨率很高，且3次以上的高次线能量非常低，基本可以忽略。上面回答的As和Pb不是你问的这个问题。

3 关于测角仪 测角仪在工作时，只是晶体在转动，对吗？那么晶体在转动时，角度是先从小到大，然后返回，如此Z型往复转动，还是每次都是从小角度转动大角度？方法确定后，每个元素的衍射角是不是都已经告诉仪器了？

晶体和探测器都转，就是theta和2theta。怎么转这个和厂家的设置有关，一般来说按元素序数依次来测。

XRF新手，欢迎指教讨论，有此方面的专业书籍吗？谢谢

原文由 enuo(enuo) 发表:

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1.    原子结构上，电子离核越远越不稳定，在连续X射线照射时，为什么外层的电子没有击出而是内层的电子击出，外层向内层跃迁才产生特征X射线？

都会被击出，激发内层电子需要更高的能量。但X荧光只关注内层电子被击出后发生的情况。

2. 某个角度，满足布拉格公式的某个波长的特征X光在衍射侧相互叠加光线加强才被检测器检测到进而测的其含量，其他波长的光因为不叠加而减弱，所以不被检测到，此是XRF定性的原理吗？假如某个光的波长是另外一个的整数倍的话，在衍射侧也应该是加强的，也应该被检测到，两种元素的特征光混淆了？

如果刚好整数倍的话肯定无法分开。但波散分辨率很高，且3次以上的高次线能量非常低，基本可以忽略。上面回答的As和Pb不是你问的这个问题。

3 关于测角仪 测角仪在工作时，只是晶体在转动，对吗？那么晶体在转动时，角度是先从小到大，然后返回，如此Z型往复转动，还是每次都是从小角度转动大角度？方法确定后，每个元素的衍射角是不是都已经告诉仪器了？

晶体和探测器都转，就是theta和2theta。怎么转这个和厂家的设置有关，一般来说按元素序数依次来测。

XRF新手，欢迎指教讨论，有此方面的专业书籍吗？谢谢