原文由 禾苗EDXRF(v2711375) 发表:
测S含量本身对XRF的要求就高,1楼说的是正解,这是测量方法上的要求,对于硬件来说,如果是能谱的话,探测器起码要SDD的才行,像Si-PIN探测器就不可能做到了
No. No. No
最初X荧光使用的还是正比计数器的时候,照样有人用来测S测得还不错的。要看你在什么样的检测范围,以及可能产生的相互干扰元素都有没有,还有基体效应等等,不能一概而论。X荧光最便宜都是几十万的仪器,Si-PIN检测器是现阶段价格比较便宜的,能满足要求的话,无需非SDD不可,甚至就算你一定要较高的Si-Li检测器,也要看冷却能不能满足要求。就像你只需要做文档,打印报告什么的,需要买个Mac Pro吗?