主题:【讨论】用XRF荧光法分析炉渣中的S含量,准吗?

浏览0 回复27 电梯直达
haoxinustb
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haoxinustb
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原文由 新加坡现代材料(SH100891) 发表:
S含量检测应该没问题吧,给你个报告看看。
谢谢,这个附件怎么下载啊。未验证。。
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原文由 haoxinustb(v2703076) 发表:
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S含量检测应该没问题吧,给你个报告看看。
谢谢,这个附件怎么下载啊。未验证。。


给我邮箱,发给您。
仗剑少年游
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检测数据看干什么用了,常量分析,XRF的半定量结果还是很可靠地,难道是想用炉渣做水泥(否则关心硫含量干什么?)。
秋月芙蓉
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S含量检测应该没问题吧,给你个报告看看。
谢谢,这个附件怎么下载啊。未验证。。
已经验证了
haoxinustb
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原文由 haoxinustb(v2703076) 发表:
原文由 新加坡现代材料(SH100891) 发表:

S含量检测应该没问题吧,给你个报告看看。
谢谢,这个附件怎么下载啊。未验证。。


给我邮箱,发给您。
验证了,可以下载,3Q
禾苗EDXRF
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测S含量本身对XRF的要求就高,1楼说的是正解,这是测量方法上的要求,对于硬件来说,如果是能谱的话,探测器起码要SDD的才行,像Si-PIN探测器就不可能做到了
新加坡现代材料
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原文由 禾苗EDXRF(v2711375) 发表:

测S含量本身对XRF的要求就高,1楼说的是正解,这是测量方法上的要求,对于硬件来说,如果是能谱的话,探测器起码要SDD的才行,像Si-PIN探测器就不可能做到了


No. No. No

最初X荧光使用的还是正比计数器的时候,照样有人用来测S测得还不错的。要看你在什么样的检测范围,以及可能产生的相互干扰元素都有没有,还有基体效应等等,不能一概而论。X荧光最便宜都是几十万的仪器,Si-PIN检测器是现阶段价格比较便宜的,能满足要求的话,无需非SDD不可,甚至就算你一定要较高的Si-Li检测器,也要看冷却能不能满足要求。就像你只需要做文档,打印报告什么的,需要买个Mac Pro吗?
仗剑少年游
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同意!

检测不是器材流,在于检测对象和检测要求。
ian.cheng
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哪种XRF呢?
听说如果S含量很低的话,需要真空条件下测试
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