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主题：【求助】求ims 7f或者4f亦可的探测极限

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光哥
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发表于：2013/07/08 14:10:34 楼主 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
RT，近期想写个原创文章，缺少cameca 系列高分辨SIMS的探测极限。请版友帮忙找找这类东西的出处、链接。

如同时能有TXRF、NAA的探测极限数据更好。

先谢谢各位了
该帖子作者被版主 无机麦地加 4积分， 2经验，加分理由：讨论
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shuiyang88
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2013/7/9 23:25:06 沙发 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
SIMS的探测极限也没有特别高：http://www.cameca.com/instruments-for-research/sims.aspx

SIMS做微区分析应该更擅长

NNA现在基本上没几个人做了，就只有少数几个地方有反应堆，并且一年也开不 了几次。

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拳力向前
v3033145
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2015/8/17 15:36:39 板凳 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
布鲁克 TXRF S2 PICOFOX的工作原理是基于全反射X射线荧光光谱(TXRF)。采用风冷的钼(Mo)靶X射线光管产生初级X射线，通过多层膜单色器后形成一束能量范围很窄的单色光，以非常低的角度(< 0.1?)掠射装有样品的抛光载片，并被全反射。样品中元素发出的特征荧光被能量色散型探测器检测。因为探测器与样品的距离非常近，荧光产额非常高，而空气吸收非常低。
全反射X射线荧光光谱法与常规的X射线荧光光谱法主要的区别是，在全反射荧光光谱法中采用单色光和全反射光学元件，用全反射光束激发样品荧光，并减少样品基体的吸收和散射。其优点是： 显著增强荧光产额，极大地降低背景噪音，从而拥有更高的灵敏度，可以进行微量元素分析
主要用途：用于分析液体、粉末、固体样品中常量、次量和痕量元素的快速分析，以及分析测试技术方法研究。能够迅速、准确分析从Al～U（除惰性气体及少部分元素外）的所有元素, 含量范围从1.0 ppb-100%。

更多资料可联系我，18221083873
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