主题:【讨论】关于样品被击穿的问题

浏览0 回复39 电梯直达
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里海
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原文由 zhuchenhua(zhuchenhua) 发表:
原文由 里海(lihaijun) 发表:

你找个其他的样品测量一下,比如放个纯铁片,看看是否含镍


试过纯铅、银、铜~~~还有什么纯金属忘记了,反正是好几种吧,都有镍的峰。

但是我想,即使真叫纯X金属,里面有其他金属杂质好像也很正常啊,有全纯的物质吗?


这样啊,你不如测个硼酸压片,看看是不是也能测到。如果还有,估计是你的仪器有问题了
横疏影
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波散仪器就是霸气。看那个谱峰图就突出一个细致。。。
手头有能散的话可以拿能散试一试。压片机现在很多都是30-40t的了啊。
个人比较倾向于硼酸压片
zhuchenhua
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原文由 仗剑少年游(yue_qiu) 发表:

你的硼酸压片有多厚?


2毫米厚
zhuchenhua
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你找个其他的样品测量一下,比如放个纯铁片,看看是否含镍


试过纯铅、银、铜~~~还有什么纯金属忘记了,反正是好几种吧,都有镍的峰。

但是我想,即使真叫纯X金属,里面有其他金属杂质好像也很正常啊,有全纯的物质吗?


这样啊,你不如测个硼酸压片,看看是不是也能测到。如果还有,估计是你的仪器有问题了


已经压过了哦,你看数据里面有单独的硼酸检测谱图和含量的~~~
zhuchenhua
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原文由 仗剑少年游(yue_qiu) 发表:

你的硼酸压片有多厚?


我们用了40kv  95mA,会不会太高了?
仗剑少年游
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你的硼酸压片有多厚?


我们用了40kv  95mA,会不会太高了?


这个不是重点,你现在激发的是中元素,但是你的硼酸片只有2mm厚,你弄个5mm以上的试试。
仗剑少年游
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原文由 里海(lihaijun) 发表:

你找个其他的样品测量一下,比如放个纯铁片,看看是否含镍


试过纯铅、银、铜~~~还有什么纯金属忘记了,反正是好几种吧,都有镍的峰。

但是我想,即使真叫纯X金属,里面有其他金属杂质好像也很正常啊,有全纯的物质吗?


这样啊,你不如测个硼酸压片,看看是不是也能测到。如果还有,估计是你的仪器有问题了


已经压过了哦,你看数据里面有单独的硼酸检测谱图和含量的~~~


难道是上照式的机器么?
loaferfdu
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每个样品都出现Ni的峰,理论上来说,有如下几种可能:

1. 光路上有含Ni部件在,比如掉落了含有Ni的东西,或者,某个含Ni部件位置偏移;

2. 样品被击穿,仪器舱盖的Ni信号进入检测器。

从样品不同层数测试数据来看,随着层数增加,Net强度在降低,考虑到垫硼酸压片的结果,你这个还真的可能要考虑样品被击穿的问题。

建议你联系一下帕纳克的应用工程师,毕竟他们对这个仪器更熟悉一些。

原文由 zhuchenhua(zhuchenhua) 发表:

过程是这样的,我一共压了三个片,分别测定一层、两层、三层样品,然后发现都出了镍的峰;

后来我压了一个硼酸的片,也出了镍的峰;

最后我测了一层样品底下垫一层硼酸,还是出了镍的峰。

但是我用其他方法验证过,样品里肯定没有镍,难道样品被击穿了?即使三层样品都被击穿了?垫硼酸也没用?

我已经完全迷茫了。。。。。。



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