主题:我们需要检测碳化钨(钨粉)中的杂质作为生产质量控制,用热电的AtomComp 2000的优点在于试样无须前处理,而用ICP的话就需要微波消解装置了

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chemzju
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我们需要检测碳化钨(钨粉)中的杂质作为生产质量控制,用热电的AtomComp 2000的优点在于试样无须前处理,而用ICP的话就需要微波消解装置了,但ICP是否对W的谱线太复杂而造成干扰严重?请教一下用何种仪器比较合适?谢谢!
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请参考2001年第三期《冶金分析》“钨及其化合物中杂质元素分析方法进展”一文。
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